引論：我們?yōu)槟砹?3篇集成測試范文，供您借鑒以豐富您的創(chuàng)作。它們是您寫作時的寶貴資源，期望它們能夠激發(fā)您的創(chuàng)作靈感，讓您的文章更具深度。
篇1
Analysis of Integration Testing of Software Testing
Hou Yanfang,Chu Shulai
(Zhoukou Vocational and Technical College,Zhoukou466001,China)
Abstract:The integration testing plays a very important role in software testing,the concept of integration testing,integration testing strategy and the main types of integration testing (phase) briefly discusses the analysis of several key integration testing.
Keywords:Software testing;Integration testing;Call graph;MM-path
軟件測試作為軟件質(zhì)量保證的關鍵技術之一，其目的就是能夠有效地發(fā)現(xiàn)軟件中的錯誤或缺陷。集成測試是軟件測試中處于組件測試和系統(tǒng)測試之間一個非常重要的環(huán)節(jié)，這是因為所有組件都經(jīng)過測試并能正常運行并不意味著這些組件放到一起經(jīng)過集成后還能正常運行，正是基于這一點，很多大的軟件公司成立了專門關注集成測試的測試團隊，如能恰當實施，集成測試能大大減少一些在系統(tǒng)測試階段才會發(fā)現(xiàn)的缺陷。
一、集成測試的概念
（一）集成測試的定義
集成測試是構(gòu)造軟件體系結(jié)構(gòu)的系統(tǒng)化技術，同時也是進行一些旨在發(fā)現(xiàn)與接口相關的錯誤的測試。其目標是利用已通過單元測試的構(gòu)件建立設計中描述的程序結(jié)構(gòu)。
（二）集成測試遵循的原則
集成測試遵循的原則主要包括：所有公共接口都要被測試到；關鍵模塊必須進行充分的測試；集成測試應當按一定的層次進行；集成測試的策略選擇應當綜合考慮質(zhì)量、成本和進度之間的關系；集成測試應當盡早開始，并已總體設計為基礎；在模塊與接口的劃分上，測試人員應當和開發(fā)人員進行充分的溝通；當接口發(fā)生修改時，涉及的相關接口必須進行再測試；測試執(zhí)行結(jié)果應當如實的記錄；集成測試應根據(jù)集成測試計劃和方案進行，不能隨意測試；項目管理者應保證審核測試用例。
（三）集成測試的任務
集成測試的主要任務包括：將各模塊連接起來，檢查模塊相互調(diào)用時，數(shù)據(jù)經(jīng)過接口是否丟失；將各個子功能組合起來，檢查能否達到預期要求的各項功能；一個模塊的功能是否會對另一個模塊的功能產(chǎn)生不利的影響；全局數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是否有問題，會不會被異常修改；單個模塊的誤差積累起來，是否被放大，從而達到不可接受的程度。
（四）集成測試的文檔
軟件集成的總體計劃和特定的測試描述應該在測試規(guī)約中文檔化。這個文檔包含測試計劃和測試規(guī)程，它是軟件過程的工作產(chǎn)品，也是軟件配置的一部分。
下列準則和相應的測試可應用于所有的測試階段：接口一致性。當每個模塊（或簇）引入程序結(jié)構(gòu)中時，要對其內(nèi)部和外部接口進行測試；功能有效性。執(zhí)行的測試旨在發(fā)現(xiàn)功能錯誤；信息內(nèi)容。執(zhí)行的測試旨在發(fā)現(xiàn)與局部或全局數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)相關的錯誤；性能。執(zhí)行的測試旨在驗證軟件設計期間建立的性能邊界。
測試計劃主要包括：集成測試的進度，確定每個階段的開始和結(jié)束時間；附加軟件（樁模塊及驅(qū)動模塊）的簡要描述側(cè)重于專門進行的工作的特征；描述測試環(huán)境和資源；特殊的硬件配置、特殊的仿真器和專門的測試工具或技術也是需要討論的問題；詳細測試規(guī)程。
測試規(guī)約：集成策略（包含在測試計劃中）和測試細節(jié)（在測試規(guī)程中描述）是最基本的成分，因此必須要有。
二、集成測試的策略
驅(qū)動模塊（Driver）：用來模擬待測模塊的上級模塊。驅(qū)動模塊在集成測試中接受測試數(shù)據(jù)，將相關的數(shù)據(jù)傳送給待測模塊，啟動待測模塊，并打印出相應的結(jié)果。樁模塊（Stub）：也稱為存根程序，用以模擬待測模塊工作過程中所調(diào)用的模塊。樁模塊由待測模塊調(diào)用，它們一般只進行很少的數(shù)據(jù)處理，例如打印入口和返回，以便于檢驗待測模塊與下級模塊的接口。
一般可分為非增量集成和增量式集成，其中增量集成指的是程序以小增量的方式逐步進行構(gòu)造和測試，這樣錯誤易于分離和糾正，更易于對接口進行徹底測試，而且可以運用系統(tǒng)化的測試方法，傳統(tǒng)的將增量測試策略分為自頂向下集成、自底向上集成以及三明治集成。
三、集成測試的主要類型（階段）
（一）基于功能分解的集成
在討論集成測試時，測試方法都基于采用樹或文字形式來表示的功能分解。這類討論不可避免地要深入到將要集成的模塊的順序。
1.自頂向下集成（從樹頂開始向下）。深度優(yōu)先集成是首先集成結(jié)構(gòu)中主控路徑下的所有模塊。
2.自底向上集成（從樹底開始向上）。自底向上集成是自頂向下順序的“鏡像”，不同的是，樁由模擬功能分解樹上一層單元的驅(qū)動模塊替代。在自底向上集成中，首先從分解樹的葉子開始，并用特別編寫的驅(qū)動模塊進行測試。驅(qū)動模塊中的一次性代碼比樁中的少。大多數(shù)系統(tǒng)在接近葉子節(jié)點時都有相當高的扇出數(shù)，因此在自底向上集成順序中，不需要同樣數(shù)量的驅(qū)動模塊，不過代價是驅(qū)動模塊都比較復雜。
3.三明治集成（前兩種方法的某種組合）。三明治集成測試是將自頂向下測試與自底向上測試兩種模式有機結(jié)合起來，采用并行的自頂向下、自底向上集成方式，形成的方法。三明治集成測試更重要的是采取持續(xù)集成的策略。樁和驅(qū)動的開發(fā)工作都比較小，不過代價是作為大爆炸集成的后果，在一定程度上增加了定位缺陷的難度。
（二）基于功能分解方法的優(yōu)缺點
1.自頂向下集成，其優(yōu)點：在于它可以自然地做到逐步求精，一開始就能讓測試者看到系統(tǒng)的框架。缺點：需要提供樁模塊，樁模塊是對被調(diào)用子模塊的模擬，可能不能反映真實情況，因此測試有可能不充分。
由于被調(diào)用模擬子模塊不能模擬數(shù)據(jù)，如果模塊間的數(shù)據(jù)流不能構(gòu)成有向無環(huán)圖，一些模塊的測試數(shù)據(jù)便難以生成。同時，觀察和解釋測試輸出往往也是困難的。
2.自底向上集成，其優(yōu)點：由于驅(qū)動模塊模擬了所有調(diào)用參數(shù)，即便數(shù)據(jù)流并未構(gòu)成有向無環(huán)圖，生成測試數(shù)據(jù)也沒有困難。如果關鍵的模塊是在結(jié)構(gòu)圖的底部，那么自底向上測試是有優(yōu)越性的。缺點：直到最后一個模塊被加入進去之后才能看到整個程序(系統(tǒng))的框架。
3.三明治集成測試采用自頂向下、自底向上集成相結(jié)合的方式，并采取持續(xù)集成的策略，有助于盡早發(fā)現(xiàn)缺陷，也有利于提高工作效率。
4.功能分解缺點。為了滿足項目管理的需要，而不是為了滿足軟件開發(fā)人員的需要。樁或驅(qū)動的開發(fā)工作量，此外還有重新測試所需工作量的問題。對于自頂向下集成，需要開發(fā)（節(jié)點-1個）樁模塊；對于自底向上集成，需要開發(fā)（節(jié)點-葉子）個驅(qū)動模塊。
（三）基于調(diào)用圖的集成
基于調(diào)用圖的集成一般分為成對集成和相鄰集成。基于調(diào)用圖方法的優(yōu)點：偏離了純結(jié)構(gòu)基礎，轉(zhuǎn)向行為基礎，因此底層假設是一種改進；這些技術還免除了樁／驅(qū)動器開發(fā)工作量；與以構(gòu)建和合成為特征的開發(fā)匹配得很好。缺點：缺陷隔離問題，尤其是對有大量鄰居的情況；清除缺陷后，意味著以前測試過的包含已變更代碼的鄰居，都需要重新進行測試。
（四）基于路徑的集成
將集成測試的側(cè)重點由測試單獨開發(fā)并通過測試的單元之間的接口，轉(zhuǎn)移到這些單元的交互上，即它們的“協(xié)同功能”上。接口是結(jié)構(gòu)性的，而交互是功能性的。
MM-路徑是功能性測試和結(jié)構(gòu)性測試的一種混合，其優(yōu)點：它與實際系統(tǒng)行為結(jié)合緊密，而不依賴于基于分解和調(diào)用圖集成的結(jié)構(gòu)性推動。基于路徑集成測試也適用于面向?qū)ο蟮能浖y試。缺點：需要更多的工作量標識MM-路徑。這種工作量可能會與樁和驅(qū)動的開發(fā)所需工作量有偏差。
（五）面向?qū)ο蟓h(huán)境中的集成測試
兩種不同的策略：
1.基于線程的測試(thread-based testing）。
2.基于使用的測試（use-based testing）。
驅(qū)動程序和樁程序：驅(qū)動程序可用于測試低層中的操作和整組類的測試。驅(qū)動程序也可用于代替用戶界面以便在界面實現(xiàn)之前就可以進行系統(tǒng)功能的測試。樁程序可用于在需要類間的協(xié)作但其中的一個或多個協(xié)作類仍未完全實現(xiàn)的情況下。
四、結(jié)語
集成測試既是一種測試類型也是一個測試階段，因為集成定義為一組交互，因此組件之間的所有已定義的交互都需要測試，體系結(jié)構(gòu)和設計可以提供系統(tǒng)內(nèi)部的交互細節(jié)，但是測試一個系統(tǒng)與另一個系統(tǒng)之間的交互要求對這些系統(tǒng)一起工作的方式有深刻理解，此時的集成測試是一個階段。由于集成測試的目標是模塊之間的交互，這種測試就像白盒、黑盒及其它類型的測試一樣，也有一套技術和方法，因此集成測試也被看作是一種測試類型。
參考文獻：
[1]周燕,宋敬華.面向?qū)ο蟮募蓽y試順序的研究[J].計算機測量與控制,2010,9
[2]張云崗,劉春茂.軟件測試技術淺析[J].技術與市場,2011,2
[3]朱家云.淺析軟件測試[J].信息系統(tǒng)工程,2011,4
[4王麗達.論軟件系統(tǒng)的測試[J].經(jīng)濟研究導刊,2011,14
[5]劉欣.軟件測試方法分析與實踐[D].北京郵電大學,2009
篇2
【報告名稱】中國集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資咨詢報告
【報告性質(zhì)】專項調(diào)研：需方可根據(jù)需求對報告目錄修改，經(jīng)雙方確認后簽訂正式協(xié)議。
【關鍵詞】集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資咨詢
【制作機關】中國市場調(diào)查研究中心
【交付方式】電子郵件特快專遞
【報告價格】協(xié)商定價（紙介版、電子版）
【定購電話】010-68452508010-88430838
報告目錄
一、集成電路測試概述
(一)集成電路測試產(chǎn)業(yè)定義、基本概念
(二)集成電路測試基本特點
(三)集成電路測試產(chǎn)品分類
二、集成電路測試產(chǎn)業(yè)分析
(一)國際集成電路測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展總體概況
1、本產(chǎn)業(yè)國際現(xiàn)狀分析
2、本產(chǎn)業(yè)主要國家和地區(qū)情況
3、本產(chǎn)業(yè)國際發(fā)展趨勢分析
4、2007國際集成電路測試發(fā)展概況
(二)我國集成電路測試產(chǎn)業(yè)的發(fā)展狀況
1、我國集成電路測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展基本情況
2、集成電路測試產(chǎn)業(yè)的總體現(xiàn)狀
3、集成電路測試行業(yè)發(fā)展中存在的問題
4、2007我國集成電路測試行業(yè)發(fā)展回顧
三、2007年中國集成電路測試市場分析
(一)我國集成電路測試整體市場規(guī)模
1、總量規(guī)模
2、增長速度
3、各季度市場情況
(二)我國集成電路測試市場發(fā)展現(xiàn)狀分析
(三)原材料市場分析
(四)集成電路測試區(qū)域市場分析
(五)集成電路測試市場結(jié)構(gòu)分析
1、產(chǎn)品市場結(jié)構(gòu)
2、品牌市場結(jié)構(gòu)
3、區(qū)域市場結(jié)構(gòu)
4、渠道市場結(jié)構(gòu)
四、2007年中國集成電路測試市場供需監(jiān)測分析
(一)需求分析
1、產(chǎn)品需求
2、價格需求
3、渠道需求
4、購買需求
(二)供給分析
1、產(chǎn)品供給
2、價格供給
3、渠道供給
4、促銷供給
(三)市場特征分析
1、產(chǎn)品特征
2、價格特征
3、渠道特征
4、購買特征
五、2007年中國集成電路測試市場競爭格局與廠商市場競爭力評價
(一)競爭格局分析
(二)主力廠商市場競爭力評價
1、產(chǎn)品競爭力
2、價格競爭力
3、渠道競爭力
4、銷售競爭力
5、服務競爭力
6、品牌競爭力
六、影響2007-2010年中國集成電路測試市場發(fā)展因素
(一)有利因素
(二)不利因素
(三)政策因素
七、2007-2010年中國集成電路測試市場趨勢預測
(一)產(chǎn)品發(fā)展趨勢
(二)價格變化趨勢
(三)渠道發(fā)展趨勢
(四)用戶需求趨勢
(五)服務發(fā)展趨勢
八、2008年集成電路測試市場發(fā)展前景預測
(一)國際集成電路測試市場發(fā)展前景預測
1、國際集成電路測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展前景
2、2010年國際集成電路測試市場的發(fā)展預測
3、世界范圍集成電路測試市場的發(fā)展展望
(二)中國集成電路測試市場的發(fā)展前景
1、市場規(guī)模預測分析
2、市場結(jié)構(gòu)預測分析
(三)我國集成電路測試資源配置的前景
(四)集成電路測試中長期預測
1、2007－2010年經(jīng)濟增長與集成電路測試需求預測
2、2007－2010年集成電路測試行業(yè)總產(chǎn)量預測
3、我國中長期集成電路測試市場發(fā)展策略預測
九、中國主要集成電路測試生產(chǎn)企業(yè)(列舉)
十、國內(nèi)集成電路測試主要生產(chǎn)企業(yè)盈利能力比較分析
(一)2003-2007年集成電路測試行業(yè)利潤總額分析
1、2003-2007年行業(yè)利潤總額分析
2、不同規(guī)模企業(yè)利潤總額比較分析
3、不同所有制企業(yè)利潤總額比較分析
(二)2003-2007年集成電路測試行業(yè)銷售毛利率分析
(三)2003-2007年集成電路測試行業(yè)銷售利潤率分析
(四)2003-2007年集成電路測試行業(yè)總資產(chǎn)利潤率分析
(五)2003-2007年集成電路測試行業(yè)凈資產(chǎn)利潤率分析
(六)2003-2007年集成電路測試行業(yè)產(chǎn)值利稅率分析
十一.2008中國集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資分析
(一)投資環(huán)境
1、資源環(huán)境分析
2、市場競爭分析
3、稅收政策分析
(二)投資機會
(三)集成電路測試產(chǎn)業(yè)政策優(yōu)勢
(四)投資風險及對策分析
(五)投資發(fā)展前景
1、集成電路測試市場供需發(fā)展趨勢
2、集成電路測試未來發(fā)展展望
十二、集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資策略
(一)產(chǎn)品定位策略
1、市場細分策略
2、目標市場的選擇
(二)產(chǎn)品開發(fā)策略
1、追求產(chǎn)品質(zhì)量
2、促進產(chǎn)品多元化發(fā)展
(三)渠道銷售策略
1、銷售模式分類
2、市場投資建議
(四)品牌經(jīng)營策略
1、不同品牌經(jīng)營模式
2、如何切入開拓品牌
(五)服務策略
十三、投資建議
(一)集成電路測試產(chǎn)業(yè)市場投資總體評價
(二)集成電路測試產(chǎn)業(yè)投資指導建議
十四、報告附件
(一)規(guī)模以上集成電路測試行業(yè)經(jīng)營企業(yè)通訊信息庫(excel格式)
主要內(nèi)容為：法人單位代碼、法人單位名稱、法定代表人(負責人)、行政區(qū)劃代碼、通信地址、區(qū)號、電話號碼、傳真號碼、郵政編碼、電子郵箱、網(wǎng)址、工商登記注冊號、編制登記注冊號、登記注冊類型、機構(gòu)類型……
(二)規(guī)模以上集成電路測試經(jīng)營數(shù)據(jù)庫(excel格式)
主要內(nèi)容為：主要業(yè)務活動(或主要產(chǎn)品)、行業(yè)代碼、年末從業(yè)人員合計、全年營業(yè)收入合計、資產(chǎn)總計、工業(yè)總產(chǎn)值、工業(yè)銷售產(chǎn)值、工業(yè)增加值、流動資產(chǎn)合計、固定資產(chǎn)合計、主營業(yè)務收入、主營業(yè)務成本、主營業(yè)務稅金及附加、其他業(yè)務收入、其他業(yè)務利潤、財務費用、營業(yè)利潤、投資收益、營業(yè)外收入、利潤總額、虧損總額、利稅總額、應交所得稅、廣告費、研究開發(fā)費、經(jīng)營活動產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、經(jīng)營活動產(chǎn)生的現(xiàn)金流出、投資活動產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、投資活動產(chǎn)生的現(xiàn)金流出、籌資活動產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、籌資活動產(chǎn)生的現(xiàn)金流出……
十五、報告說明
(一)報告目的
(二)研究范圍
(三)研究區(qū)域
(四)數(shù)據(jù)來源
(五)研究方法
(六)一般定義
(七)市場定義
(八)市場競爭力指標體系
篇3
一、集成測試的一般定位及范圍
隨著軟件行業(yè)的發(fā)展,軟件系統(tǒng)涵蓋了日常生活、生產(chǎn)的各個方面,復雜的軟件系統(tǒng)的測試保證越來越成為實現(xiàn)軟件需求目標的重要方面。
軟件測試根據(jù)測試介入時機和測試對象的范圍,一般可分為:單元測試、集成測試、系統(tǒng)測試。其中,集成測試是在單元測試的基礎上,將所有模塊按照設計要求組裝成為子系統(tǒng),進行集成測試。實踐表明,一些模塊雖然能夠單獨的工作,但并不能保證連接起來也能正常的工作。 程序在某些局部反映不出來的問題,在全局上很可能暴露出來,影響功能的實現(xiàn)。圖1為不同開發(fā)階段驅(qū)動的測試類型圖。
不同類型的測試的實質(zhì)是選取不同的測試范圍和對象,對對象的屬性 (功能分支及其他屬性)進行驗證的過程。好的測試是針對測試目標選取一個較優(yōu)的測試對象及范圍的組合,以獲得較高的測試投入與產(chǎn)出比例,通過對測試目標實現(xiàn)盡量完整的測試覆蓋度, 達成測試目標。軟件測試沒有絕對的覆蓋,也不存在無盡的測試資源。
傳統(tǒng)的集成測試,屬于白盒測試的一種。其主要的問題包括如下方面:
1.較大的測試開銷:由于集成測試采用將一個實體分解為多個實體的方式進行,測試接口的數(shù)量成級數(shù)增加,開銷較大,通常的集成測試都是選擇性的針對核心功能模塊進行。
2.測試輸入及構(gòu)建要求較高: 軟件測試總是基于一定的測試輸入基礎,這里的輸入,主要依賴于開發(fā)過程。由于軟件工程化開發(fā)的不同水平,集成測試往往難以獲得完整的設計輸入,同時由于軟件設計成熟度的限制,導致模塊級設計的變更頻繁,這些都加劇了測試需求輸入的惡劣和不可控。同時由于集成測試需要構(gòu)建模塊級的數(shù)據(jù)環(huán)境,屬于白盒測試,測試技能要求,測試時間消耗都較大,也是其難以實現(xiàn)高效應用的原因之一。
二、系統(tǒng)級集成測試
(一)系統(tǒng)級集成測試的特點
為了獲得更好的測試效益,我們提出一種基于系統(tǒng)級設計構(gòu)建集成測試的思路。傳統(tǒng)集成測試主要以軟件模塊為測試實體對象,將產(chǎn)品系統(tǒng)打開,基于內(nèi)部接口和模塊級運行環(huán)境進行測試設計。系統(tǒng)級集成測試從本質(zhì)上與傳統(tǒng)集成測試基本一致,但是其分析方法,更多強調(diào)與系統(tǒng)運行的場景、業(yè)務行為、事件對軟件運行的影響以及場景異常的構(gòu)建。
(二)系統(tǒng)級集成測試的對象
系統(tǒng)級集成測試捕獲的問題對象本質(zhì)是數(shù)據(jù)接口關系,主要分為3種類型,如下圖所示:
1.外部輸入關聯(lián)
如圖2,次功能模塊b的輸出是主功能模塊a的輸入。 整個系統(tǒng)功能自然的形成這種接口關系。例如:初始化是系統(tǒng)的數(shù)據(jù)準備、裝載過程;業(yè)務功能消費這些數(shù)據(jù)。
2.內(nèi)部輸入關聯(lián)
如圖2中,主功能模塊的輸入條件,除了界面輸入,還有一些內(nèi)部數(shù)據(jù)輸入。這些數(shù)據(jù)輸入可以通過次功能c來構(gòu)造。 通過次功能c的構(gòu)造,能夠?qū)崿F(xiàn)對功能a更加完整的分支覆蓋。 典型的例子是:業(yè)務通訊過程,依賴于其保護密鑰的更換功能,這里的保護密鑰就是內(nèi)部輸入關聯(lián)的數(shù)據(jù)。
3.背景數(shù)據(jù)依賴
這種集成關系常常是: 基于系統(tǒng)全局的接口,在某種功能分支運行下,發(fā)生變化,進而影響主功能模塊的運行。例如某個背景數(shù)據(jù)a是主功能的依賴數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)a可能因為某些功能運行或者某些事件改變。從而影響主功能的運行。
例如: 某個應用系統(tǒng)某數(shù)據(jù)的生產(chǎn)任務已經(jīng)啟動了,但一段時間后該應用系統(tǒng)被刪除。則其對應的數(shù)據(jù)如果沒有設計回收機制,就會形成冗余數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)占據(jù)了空間,但是沒有被使用。這種情況也可以被理解為一種異常測試。
集成測試所捕獲的問題主要來自于上述3種情況,而這些問題,常常是最容易出現(xiàn)測試逃逸的方面。
三、系統(tǒng)級集成測試的分析方法
系統(tǒng)級集成測試分析依賴于白盒接口分析、黑盒場景分析2方面的有機結(jié)合,接口分析的目的是分析明確集成測試的邊界和目標;而場景分析則幫助我們獲得高效的需求選擇依據(jù),選取最重要的測試需求。
(一)接口分析
通過對系統(tǒng)級功能核心接口數(shù)據(jù)進行分析,明確集成測試的實體范圍及測試的目標分支。
根據(jù)上述2.2節(jié)的分析,集成測試的本質(zhì)是捕獲模塊內(nèi)部分支上的bug,所以,集成測試分析首先應明確測試功能或模塊對象,以及與之存在接口關系的相關功能或模塊對象,形成功能簇。功能簇有2種來源方式:
1.由軟件概要設計文檔,軟件分支流程圖,而導出的數(shù)據(jù)接口關系。在軟件系統(tǒng)設計中,各個分支所共有的數(shù)據(jù)以及數(shù)據(jù)接口關系,就是要測試的目標。
2.基于系統(tǒng)業(yè)務而劃定的一組關聯(lián)功能,這些共同實現(xiàn)某種業(yè)務的功能,通常具有密切的數(shù)據(jù)接口,輸入與消費的關系。
功能簇的選取,應針對每個重點的核心功能,逐一進行分析,形成若干功能簇。這里的核心功能,常常是那些系統(tǒng)中,長期或者頻繁運行的,與核心業(yè)務密切相關的功能。如管理系統(tǒng)的管理服務端,通信系統(tǒng)中的業(yè)務通訊功能。
(二)場景化分析
通過接口分析,明確了測試的目標接口;而動態(tài)的場景分析,則是有效的選取、過濾這些接口獲得最優(yōu)測試覆蓋率的手段。同時也對系統(tǒng)級的主要異常測試設計提供的依據(jù)。
測試中常常提到分支覆蓋、語句覆蓋,其實最有效的是場景覆蓋。因其視角最高,也能獲得最好的覆蓋效率。
場景分析的要素包括:業(yè)務模型、應用模式、承載環(huán)境等。是對于軟件系統(tǒng)完整運行環(huán)境的建模和構(gòu)建。
下表列出了典型的加密通信系統(tǒng)的主要業(yè)務及場景的關聯(lián)分析表:
四、結(jié)束語
篇4
五個階段
移動設備的研發(fā)周期可以從廣義上分成五個階段：設計、系統(tǒng)集成與驗證、前一致性(preconformance)驗證、一致性(conformance)驗證、互操作性。每個階段都有自身的測試需求，研發(fā)周期中所涉及的每個設計小組都有自己的測試過程和首選的測試方法。
滿足各個階段測試需求需要多種測試設備，其中主要的測試儀器包括腳本生成引擎、射頻參數(shù)式測試儀和堆棧式信號測試儀。我們主要關心系統(tǒng)集成與驗證測試工作中所涉及的這三類測試。
在系統(tǒng)集成與驗證階段，各個階段的設計人員集中在一起對軟件和硬件進行集成。他們需要檢驗各個組成單元的基本功能，驗證射頻與模擬器件的功能，檢驗設備在真實環(huán)境下的工作情況，當對設計進行修改之后還要進行回歸測試(regressiontesting)。在這一階段，在操作網(wǎng)絡環(huán)境下測試移動部件是非常必要的。
真實條件下的測試
為支持移動數(shù)據(jù)服務，嵌入式軟件的數(shù)量大大增加。例如，3G設備中可能會包含數(shù)百萬行的程序代碼，而原來的2G設備中所需的代碼只有幾千行。
為了實現(xiàn)互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議功能，應用程序棧是與信號協(xié)議并行運行的。當把應用集成到設備之中時，設計者必須確保所有的功能仍然能夠正確實現(xiàn)。
這是通過對部件施加測試激勵，測試諸如丟包率、數(shù)據(jù)吞吐量和延遲等參數(shù)來實現(xiàn)的。測試工作必須在盡可能接近真實的環(huán)境下進行，要使用真正的IP數(shù)據(jù)通信。
進行激勵測試的一種辦法就是在真實網(wǎng)絡中進行。但是，尋找一個商用的運行網(wǎng)絡并在各個測試階段走出實驗室進行測試并不是最可行的方法。設計者可能會受限于網(wǎng)絡的技術格式，無法控制測試環(huán)境。
另外一種更適合于實驗室測試的方法是采用一體式測試裝置，這種測試裝置同時具有射頻和協(xié)議分析功能，能夠代替真實的射頻網(wǎng)絡，作為一個基站仿真器來使用。設計者可以監(jiān)測各個部件來回傳輸?shù)男畔ⅲ薷母鞣N網(wǎng)絡參數(shù)，例如射頻功率、數(shù)據(jù)編碼結(jié)構(gòu)、數(shù)據(jù)速率和時隙(time slots)數(shù)量等。
安捷倫公司推出的8960無線通信測試裝置能夠運行預置調(diào)制格式的實驗室應用程序，針對GSM／GPRS，EDGE、CDMA2000、lxEV-DO、W-CDMA和HSDPA技術，實現(xiàn)語音、視頻、IP和通信應用的仿真測試功能。
該裝置所具有的一套射頻測試功能將參數(shù)化測量功能和首層性能測試結(jié)合起來，能夠針對預定的訪問信道評測無線設備的性能。
解決復雜的性能問題
在集成與驗證測試工作的早期，設計者往往覺得記錄協(xié)議交換信息對于優(yōu)化設計或者調(diào)試錯誤非常有幫助。協(xié)議記錄工具必須要能夠?qū)崟r地記錄第1、2、3層的協(xié)議消息。
在設計調(diào)試過程中，測試工具還應該具備用戶預定的觸發(fā)與過濾功能，以幫助設計者隔離某些特殊的問題。兩臺測試裝置進行同步記錄的功能對于評測Inter-RAT handover性能是非常有用的。
在這一測試階段，很多細微的和不是非常細微的性能問題就會出現(xiàn)。交換(handover)是一種非常復雜的數(shù)據(jù)調(diào)用，也是一個常見的問題來源。同時使用多個測試裝置進行雙單元(two―cell)仿真是實現(xiàn)真實交換測試的基礎。
隨著3G網(wǎng)絡數(shù)據(jù)速率的增大，設計者還必須解決移動設備失效的問題，這種問題只會隨著和數(shù)據(jù)吞吐量的增大而涌現(xiàn)出來。即使由于大氣干擾而使信號發(fā)生干擾和衰落，設計者都必須搞清楚其產(chǎn)品中所用的微處理器是否能夠處理所有輸入和輸出該設備的數(shù)據(jù)信息。
當做完基本的無線設計功能驗證之后，設計者還必須確保：當把該移動設備接入不斷擴容的個人電腦和操作系統(tǒng)網(wǎng)絡中時，為終端用戶提供的應用程序仍然能夠正確工作。在3G蜂窩網(wǎng)絡中傳輸高速的數(shù)據(jù)將會給終端用戶的使用帶來問題，因為大多數(shù)PC操作系統(tǒng)無法處理移動網(wǎng)絡傳送的數(shù)據(jù)。
隨著數(shù)據(jù)速率的增加，這些問題將變得更加糟糕。網(wǎng)絡仿真器和移動設備僅僅是整個移動數(shù)據(jù)系統(tǒng)中的兩個組件，若想檢測整個系統(tǒng)的問題就會給設計者提出更大的新挑戰(zhàn)。
8960測試裝置中的數(shù)據(jù)吞吐率監(jiān)視器能夠?qū)Πl(fā)射器和接收器信道上的無線和IP數(shù)據(jù)吞吐率進行測量。設計者能夠把超過實際網(wǎng)絡性能指標的數(shù)據(jù)速率作為激勵加載給待測設備，對于HSDPA能夠測試高達3．6Mb／s的數(shù)據(jù)速率，對于lxEV-DO能夠測試2．4Mb／s的速率，同時還可以模擬某些射頻故障(如圖2所示)。
除了CDMA格式的實驗室應用外，設計者還可以在PC上使用安捷倫推出的Baseband Studio功能，實現(xiàn)信號衰落條件下的應用性能測試，并監(jiān)測數(shù)據(jù)吞吐中的故障。這一功能通常需要更昂貴的測試設備來實現(xiàn)。
篇5
Abstract：Smoke detector is one of the most common fire detection device in building fire protection facilities. According to the fire protection regulations maintenance units must be detector function test every year, and the third party inspection, a lot of work consumed in the smoke detector test. The author puts forward the idea about the smoke fire detector test function integration, in order to solve the problem of high cost and the detector alarm performance can not be quantified.
Key Words：smoke detectortestintegration
一、前言
隨著國民經(jīng)濟的不斷發(fā)展，人民生活水平的提高，國家及民眾對于消防安全日益重視，火災自動報警系統(tǒng)作為最為常用的早期火災預警裝置日益普及，從最新實施的《火災自動報警系統(tǒng)設計規(guī)范》GB50116-2013就可以看出，國家對住宅建筑火災自動報警系統(tǒng)的設置提出了明確的要求。感煙火災探測器作為火災自動報警系統(tǒng)中最為常用的報警裝置，其功能好壞直接關系到是否能夠早報警早處置，正是基于此，《火災自動報警系統(tǒng)施工及驗收規(guī)范》GB50166-2007明確要求每年需對所有探測器進行功能測試，另外《消防法》規(guī)定需對建筑消防設施每年至少進行一次全面檢測，即第三方消防檢測機構(gòu)年檢。
二、傳統(tǒng)測試方式的弊端
為了檢驗感煙探測器報警功能的好壞，主要的測試方法是使用感煙探測器測試工具（俗稱煙槍）對其進行流動加煙試驗。由于感煙探測器點多面散，操作人員需要扛槍流動作業(yè)，再加上點香及煙霧加注過多后的善后處理等，消耗了維保和檢測單位的大量時間和人力、物力投入。
在傳統(tǒng)的加煙測試過程中，煙霧的濃度很難控制，煙霧進入探測器內(nèi)部的數(shù)量更是不得而知，這就造成了有些靈敏度高的探測器幾秒鐘內(nèi)就立刻報警，而有些靈敏度差的探測器就需要注煙幾分鐘后才報警，雖然都有報警功能但是顯然兩者都存在著一定的問題，前者容易受環(huán)境影響產(chǎn)生誤報警，而后者又不能做到火災的早期預警，關鍵因素是煙量無法準確控制，現(xiàn)場加煙與實驗室的標準煙室存在著很大的差別，這也是感煙探測器的報警功能參數(shù)未納入計量認證的原因之一。
另外在一些特殊場所，如中庭、高架倉庫等，點型感煙探測器安裝高度能夠達到極限高度12米，線型光束感煙探測器安裝高度可以達到20米，煙槍無法觸及，需登高作業(yè)方可進行測試，十分不便；再如一些危險場所，如變壓器室、高壓開關室等，平時人員無法進入，只能在停機的情況下才能進行測試。還有一些禁煙場所，如煤氣等易燃易爆區(qū)域、高檔賓館酒店等，傳統(tǒng)的加煙測試方式局限性很大。
三、感煙探測器測試功能集成化
造成目前這種現(xiàn)狀的主要原因是探測器生產(chǎn)廠家設計探測器的初衷只是為了探測火災，而沒有考慮到日后測試及維護的方便快捷。隨著人們對消防安全的日益重視，以及勞動力成本的不斷提升，亟需一種既能夠準確判斷感煙探測器報警性能又便于測試的手段。
點型感煙火災探測器是消防火災自動報警系統(tǒng)中使用最為廣泛的探測裝置，雖然歷經(jīng)幾十年的發(fā)展，但其探測原理沒有發(fā)生實質(zhì)性的改變，它是通過探測區(qū)域煙霧濃度變化影響到光線的變化，當煙霧造成的光線減弱到一定的數(shù)值后，再轉(zhuǎn)化為電信號實現(xiàn)報警目的的一種器件。光電探測器的響應閾值，即用減光系數(shù)m值(單位為dB/m)表示的探測器報警時刻的煙濃度，需采用實驗室方法測量確定，即在光學密度計利用光束受煙粒子作用后，光輻射能按指數(shù)規(guī)律衰減的原理測量煙濃度。減光系數(shù)用下式表示：
m=（10/d)lg(P0/P)，式中：
m―減光系數(shù)，dB/m；
d―試驗煙的光學測量長度，m；
P0―無煙時接收的輻射功率，W；
P―有煙時接收的輻射功率，W。
如果在其內(nèi)部集成物理減光測試裝置和執(zhí)行機構(gòu)，在測試時使減光裝置動作，遮擋光源，同樣能夠啟到模擬煙霧的效果，達到測試報警功能的目的。在現(xiàn)場使用了一段時間后，如果在減光裝置動作后不能及時報警即可以判定該探測器的報警閾值已經(jīng)達不到出廠時的最低要求，可以通過廠家提升靈敏度，或者進行清洗或更換，徹底解決了傳統(tǒng)的通過加煙進行探測器測試方法中的煙量無法準確控制，判斷報警時間是否及時的關鍵問題。由于目前感煙探測器在生產(chǎn)過程中可以設定不同的靈敏度，所以在減光裝置的選擇上應該與探測器最低靈敏度時的響應閾值相匹配，以準確判斷在最不利的情況下探測器報警功能的好壞。
對于線型光束感煙探測器以及管路采樣式吸氣感煙火災探測器測試裝置的集成同樣可以采用以上思路。前者可根據(jù)《建筑消防設施檢測技術規(guī)程》GA503-2004的測試方法，在發(fā)射器及接收器處的光路上分別安裝減光值為1.0dB和10dB的減光裝置，分別啟到測試報警及報故障的功能。而后者如果安裝高度較高不便測試的話，可以在最不利的采樣孔處安裝一根空心伴隨管便于將測試煙霧送入采用孔中。
篇6
關鍵詞：
測量系統(tǒng)分析(MSA)；集成電路(IC)測試；重復性；再現(xiàn)性
0引言
測量是給具體事物(實體或系統(tǒng))賦值得過程。此過程中輸入包括人(操作員)、機(量具或必備的設備和軟件)、料、法、環(huán)，過程的輸出即測量結(jié)果。測量系統(tǒng)就是由人、機、法以及測量對象構(gòu)成的過程的整體。在集成電路制程中，IC測試主要由晶圓測試(即CP)、封裝成品測試(即FT)，IC測試是使用測試設備及針對集成電路制作的測試程序?qū)A或封裝成品進行測試，確保集成電路滿足IC設計的功能及性能要求。因此一個具有大量變差的測量系統(tǒng)，會造成IC測試所獲得測量值較電路真實值出現(xiàn)很大的偏差，在測試過程中，使用該測量系統(tǒng)是不適合的。若缺少對測量系統(tǒng)的有效控制，會影響到獲得測量值的準確性，造成IC測試的誤判，嚴重時會涉及到IC的大量失效，甚至報廢。因此，測量系統(tǒng)分析在IC測試中的應用，是識別測量系統(tǒng)是否適合的一個重要手段，通過該手段，可確保獲得測量值的準確性和精確性。
1測量系統(tǒng)分析的基本概念
1.1測量賦值
給具體事物以表示它們之間關于特殊特性之間的關系[1]。
1.2測量過程
給具體事物(實體或系統(tǒng))賦值的過程被定義為測量過程[2]。也可以看作一個制造過程，這個過程的輸入有測量人員、設備、樣品、操作方法和測量環(huán)境，它產(chǎn)生數(shù)據(jù)作為輸出，如圖1所示。
1.3測量系統(tǒng)
是指用來對被測特性定量測量或定性評價的儀器或量具、標準、操作、方法、夾具、軟件、人員、環(huán)境和假設的集合；用來獲得測量結(jié)果的整個過程[1]。測量系統(tǒng)可分為“計量型”、“計數(shù)型”、“破壞性”等類型。測量后能夠給出具體的測量數(shù)值的為計量型測量系統(tǒng)分析；只能定性的給出測量結(jié)果的為計數(shù)型測量系統(tǒng)分析；對一些樣本不可重復測量的計量型測量系統(tǒng)，可以進行破壞型測量系統(tǒng)分析。“計量型”測量系統(tǒng)分析通常包括“穩(wěn)定性”、“重復性”、“再現(xiàn)性”、“偏倚”及“線性”(五性)的分析、評價。在測量系統(tǒng)分析的實際應用中，可同時進行，也可選項進行，根據(jù)具體應用情況確定。“計數(shù)型”測量系統(tǒng)分析通常利用假設性試驗分析方法來進行判定。
1.4重復性
是用一個評價人使用相同的測量儀器對同一零件上的同一特性，進行多次測量所得到的測量變差；它是設備本身的固有變差或能力。傳統(tǒng)上將重復性稱為“評價人內(nèi)部”的變異[1]。
1.5再現(xiàn)性
是指測量的系統(tǒng)之間或條件之間的平均值變差。傳統(tǒng)上將再現(xiàn)性稱為“評價人之間”的差異[1]。
1.6量具R&R或GRR
量具的R&R是結(jié)合了重復性和再現(xiàn)性變差的估計值。換句話說，GRR值等于系統(tǒng)內(nèi)部變差和系統(tǒng)之間變差的和[1]。即：σ2GRR=σ2再現(xiàn)性+σ2重復性(1)
1.7系統(tǒng)變差
測量系統(tǒng)變差可分為：能力：短期間的誤差，是由線性、均一性和再現(xiàn)性結(jié)合的誤差量；性能：所有變差來源于長期的影響，是長期讀數(shù)的變化量；不確定度：有關被測值的數(shù)值估計范圍，相信真值包括在此范圍內(nèi)[1]。
2測量系統(tǒng)分析的介紹
2.1測量系統(tǒng)變差
測量系統(tǒng)分析的目的之一是獲得測量系統(tǒng)與所處環(huán)境相互作用使其產(chǎn)生的測量變差的類型和結(jié)果的信息[1]。測量系統(tǒng)變差類型可分成五種類型：偏倚、重復性、再現(xiàn)性、穩(wěn)定性和線性，其中重復性、偏倚、穩(wěn)定性和線性屬于量具變差，再現(xiàn)性屬于操作員造成的變差。通常通過偏倚、線性及穩(wěn)定性來判斷測量系統(tǒng)的準確性，通過重復性和再現(xiàn)性來判斷測量系統(tǒng)的精確性(即其波動)。
2.2測量數(shù)據(jù)特性
測量系統(tǒng)分析是為了更好的發(fā)現(xiàn)測量系統(tǒng)變差，從而通過對測量系統(tǒng)變差的控制來滿足測量產(chǎn)品質(zhì)量特性的目的，也控制測量數(shù)據(jù)的質(zhì)量。測量數(shù)據(jù)顯現(xiàn)出的4種狀態(tài)，如圖2所示。說明：圖2(a)中測量數(shù)據(jù)分布雖較集中，但偏離中心較大，屬于精確但不準確測量數(shù)據(jù)；圖2(b)中測量數(shù)據(jù)雖基本都在中心內(nèi)，但數(shù)據(jù)分布較離散，屬于準確但不精確數(shù)據(jù)；圖2(c)中測量數(shù)據(jù)分布離散，且數(shù)據(jù)基本在中心外，屬于不準確且不精確數(shù)據(jù)；圖2(d)中測量數(shù)據(jù)分布集中，且均在中心內(nèi)，屬于既準確又精確數(shù)據(jù)。圖2(a)、(b)、(c)這3中測量數(shù)據(jù)，是質(zhì)量"低"的測量數(shù)據(jù)，圖2(d)的測量數(shù)據(jù)，是質(zhì)量"高"的測量數(shù)據(jù)，也是測量過程期望獲取的數(shù)據(jù)。
2.3測量系統(tǒng)分析(MSA)方法分類
測量系統(tǒng)分析(MSA)方法主要分為三類：計量型測量系統(tǒng)分析方法、計數(shù)型測量系統(tǒng)分析方法以及破環(huán)型測量系統(tǒng)分析方法。計量型測量系統(tǒng)分析方法主要分為兩類：位置分析、寬度分析。其中位置分析常用的有：偏倚分析、線性分析和穩(wěn)定性分析，寬度分析常用的有：重復性分析和再現(xiàn)性分析，如圖3所示。計數(shù)型測量系統(tǒng)分析方法包括：風險分析法、信號分析法以及數(shù)據(jù)解析分析法。對于計數(shù)型測量系統(tǒng)，主要采用風險分析法進行研究。破壞性測量系統(tǒng)分析方法包括：偏倚分析、變異分析和穩(wěn)定性分析。在IC測試過程中，測試所得的測試參數(shù)數(shù)據(jù)通常為一連串的測試數(shù)據(jù)，即計量型數(shù)據(jù)，因此測量系統(tǒng)分析時通常采用計量型測量系統(tǒng)分析。以下介紹重復性和再現(xiàn)性分析在IC測試中的應用，通過重復性和再現(xiàn)性分析評價測量系統(tǒng)能力。
3重復性和再現(xiàn)性分析在IC測試中的應用
3.1IC測試中評價測量系統(tǒng)要求
IC測試過程中，評價測量系統(tǒng)時，需確認三個基本問題：
1)測量系統(tǒng)的分辨能力(在IC測試中主要指測試設備)是否滿足測試要求，即系統(tǒng)的設計性能能否滿足測試過程中所需實現(xiàn)的性能，這個是系統(tǒng)本身決定；
2)測量系統(tǒng)在一定時間內(nèi)是否在統(tǒng)計上保持一致，即測量系統(tǒng)是否經(jīng)過校驗，以確保測量系統(tǒng)狀態(tài)處于穩(wěn)定狀態(tài)；
3)這些統(tǒng)計性能是否在預期范圍內(nèi)保持一致，并且用于過程分析或控制是否合格，即測量系統(tǒng)分析的結(jié)果是否在可接收范圍內(nèi)。測量系統(tǒng)分析在評價測量系統(tǒng)中起到很重要的作用。在IC測試過程中，造成測量結(jié)果變差主要是由量具變差以及操作員造成的變差導致，而重復性分析是分析量具變差，再現(xiàn)性分析是分析操作員造成的變差。因此重復性和再現(xiàn)性在IC測試的測量系統(tǒng)分析中占重要的位置。
3.2重復性和再現(xiàn)性分析操作過程
1)測量樣品的選擇選定標準樣品，至少3只，并對標準樣品進行編號，以便測量時數(shù)據(jù)能一一對應；
2)選取評價人選取若干名(至少2名)操作員作為評價人執(zhí)行研究，并指定為評價人A、B、C等，評價人最好為操作該測量設備的操作員，經(jīng)過測量設備的操作培訓，避免由于操作員引起很大的測量誤差；
3)測量設備校準測量前需對被測量分析的設備進行校正，使用標準件對設備進行校正，校正合格后可進行測量；
4)每個評價人分別對標準樣品進行重復測量(至少2次)，并將測量數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)采集表中，測量數(shù)據(jù)記錄時評價人、樣品編號應一一對應；
5)重復性和再現(xiàn)性研究
(a)重復性研究
重復性是研究測量設備本身的波動，測量條件(如測量環(huán)境、測量地點、測量標準樣品等)要盡可能統(tǒng)一。首先通過極差圖(R圖)分析測量過程是否受控，并通過R圖觀察評價人之間對每個標準樣品測量過程的一致性。若R圖上由數(shù)據(jù)出現(xiàn)失控現(xiàn)象，應對每一個輸入數(shù)據(jù)進行核對確認，若輸入數(shù)據(jù)正確，需分析失控原因并進行針對性糾正，通常可采取三種糾正方式：忽略超出的點；刪除超出的點以及評價人重新測量標準樣品。然后計算重復性。重復性計算公式：EV=R軏×K1(2)其中R軏重復測量同一零件的極差的平均值，K1根據(jù)重復測量次數(shù)選值。
(b)再現(xiàn)性研究
再現(xiàn)性是研究不同評價人在相同的測量條件(如測量環(huán)境、測量設備、測量地點等)下測量同一標準樣品時產(chǎn)生的波動。可通過每個評價人測量每個標準樣品的平均值進行分析，通過均值控制圖觀察分析。首先計算出每位評價人測量標準樣品的總平均值，計算評價人之間的極差R0與標準差σ0，其中該標準差還包含了操作員重復測量引起的波動，因此需減去重復性部分，對該標準差進行修正，計算出的值即測量系統(tǒng)的再現(xiàn)性。再現(xiàn)性計算公式：AV=[R0d*2]-[(σe)2(nr)](3)
(c)標準樣品間的波動
測量的標準樣品間總是存在差異的。首先計算標準樣品測量總平均值的極差，然后計算出標準樣品間的波動PV。PV計算公式：PV=RP×K3(4)其中RP為標準樣品極差，K3根據(jù)標準樣品數(shù)量進行選值。
(d)測量過程
總波動測量過程輸出總波動TV包括測量過程的實際波動和測量系統(tǒng)的波動。TV公式：TV2=PV2+EV2＋AV2(5)以上已獲得AV、EV以及PV的值，那么總波動TV的值也可得出。
(e)測量系統(tǒng)能力的評價
通過已經(jīng)計算出的重復性EV和再現(xiàn)性AV，可以計算出測量系統(tǒng)的波動GRR。GRR計算公式：GRR=EV2＋AV2(6)通過用測量系統(tǒng)的波動GRR與總波動(TV)之比來度量，即計算%GRR值。%GRR計算公式：%GRR=100[GRR/TV](7)根據(jù)測量系統(tǒng)能力判別準則，對測量系統(tǒng)進行評定，判別準則具體為：%GRR<10%，表明測量系統(tǒng)能力很好，可正常使用；10%≤%GRR≤30%，依據(jù)設備的重要性、成本及維修費用等因素，決定是否可使用或不可使用；%GRR＞30%，說明測量系統(tǒng)本身波動很大，由該測量系統(tǒng)得出的數(shù)據(jù)是不可靠的，測量系統(tǒng)必須改進。這時，需通過對測量系統(tǒng)的各種波動源，進行研究，若重復性變差本身較小，則說明問題出現(xiàn)在再現(xiàn)性上，可通過對加強對評價人的培訓，對作業(yè)方法的優(yōu)化或提高評價人操作的一致性來減小評價人間的波動，若采取措施后仍不能滿足要求，或者重復性變差本身較再現(xiàn)性變差大很多，則需要將該設備停用做好標識，更換測量系統(tǒng)能力好的設備或采購新的測量系統(tǒng)。
4應用實例
使用測量設備對IC進行測試，主要是將流片過程、封裝過程中產(chǎn)生的缺陷產(chǎn)品挑選出來，這些缺陷產(chǎn)品在測試時主要體現(xiàn)為測試參數(shù)超出規(guī)范界限，判定為產(chǎn)品失效。而一個產(chǎn)品的測試需測試的參數(shù)項很多，在對測量設備進行測量系統(tǒng)分析時，需先確定出關鍵參數(shù)也就是對測試產(chǎn)品影響很大，客戶重點關注的參數(shù))作為分析項目，如模擬電路測試中，部分產(chǎn)品在測試時一些參數(shù)需進行燒熔絲測試，該些參數(shù)一旦經(jīng)過燒熔絲測試后，就不可逆，無法改變測試結(jié)果，若測量設備在測試該些參數(shù)出現(xiàn)偏差，參數(shù)測試均值的中心值偏移出允差范圍，直接會導致大量產(chǎn)品的失效、報廢。下面以某模擬電路測量設備為例，確定頻率參數(shù)FOSC為分析項目，參數(shù)單位為KHZ，對該分析項目進行重復性和再現(xiàn)性數(shù)據(jù)采集，并進行分析。采集的數(shù)據(jù)如表1所示。
(1)重復性分析和計算
根據(jù)采集的數(shù)據(jù)，按照第4章中所述的重復性和再現(xiàn)性的研究方法，先得出極差圖(R圖)，如圖4所示。從圖中可以看出測量過程處于受控狀態(tài)，且3個評價人對樣品的測量都在受控狀態(tài)，說明3個人的測量操作較一致，體現(xiàn)了測量的重復性。并通過重復性公式計算出EV=0.0003。
(2)再現(xiàn)性分析和計算
將采集的數(shù)據(jù)按照樣品編號，在圖中繪制出每個評價人對每個樣品測量的平均值，得出均值圖，如圖5所示。由于在測量時測量環(huán)境、測量條件以及測量設備均一致，因此可以通過不同評價人測量同一樣品的波動來研究再現(xiàn)性，從均值圖中，可以看出3位評價人分別測量的10個樣品，每個樣品均值波動最大的波動為33HZ，該樣品FOSC參數(shù)的均值允許偏差為±500HZ，測量波動大大小于參數(shù)的均值允差，說明具有良好的再現(xiàn)性。并通過再現(xiàn)性計算公式，可計算AV=0.0005。
(3)測量設備能力分析
①通過圖5均值圖分析。通過對該樣品電路不同批次的測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析，該樣品的均值圖中控制線以內(nèi)區(qū)域表示測量的敏感性。若圖中顯示的測量均值有一半以上(包括一半)落在控制線以外，則表明該測量系統(tǒng)適合進行測試該IC電路。若落在控制線以外的測量均值小于一半，則表明該測量系統(tǒng)缺乏足夠的分辨力，不適合進行該IC電路的測試。從圖中可以看出，3位評價人測試每個樣品的均值大部分都落在控制線以外，因此該測量設備有足夠的分辨力，有足夠能力測試該IC電路。②通過樣品鏈圖分析。將所有評價人測量每個樣品的數(shù)據(jù)，畫在一張圖上，得到樣品鏈圖，如圖6所示。從圖上可以看出10個樣品不同評價人測量的變差非常小(在10HZ以內(nèi))，與該樣品所要求的FOSC參數(shù)允許偏差(±500HZ)相比，大大小于該參數(shù)允許偏差，說明該測量設備能力非常號，精度完全可以滿足測試產(chǎn)品的要求。
(4)測量系統(tǒng)能力評價
根據(jù)第4章中內(nèi)容計算出標準樣品間波動PV=0.0078、測量過程總波動TV=0.0078以及測量系統(tǒng)波動GRR=0.0006，再通過用測量系統(tǒng)的波動(GRR)與測量過程總波動(TV)之比即計算%GRR值，進行測量系統(tǒng)能力的判別。本次分析的測量設備，計算出的%GRR=7.24%。根據(jù)判別規(guī)則%GRR<10%，表明測量系統(tǒng)能力很好，測量設備的變差和人員變差對產(chǎn)品測試影響較小，完全滿足產(chǎn)品測試要求。
5結(jié)束語
IC測試主要目的是辨別電路的好壞，將不能滿足要求的電路剔除。IC測試過程中測量設備和人員的變差會對辨別結(jié)果有很大的影響，通過對重復性和再現(xiàn)性的研究與分析可以監(jiān)控測量設備和人員變差，使之處于受控狀態(tài)，從而保證測量結(jié)果的準確性和精確性。
篇7
1 引言
面向?qū)ο筌浖赜械姆庋b、繼承、多態(tài)和動態(tài)綁定等特征產(chǎn)生了傳統(tǒng)語言根本不存在的錯誤類型，因此傳統(tǒng)的軟件測試技術不能直接應用到面向?qū)ο筌浖y試中來。面向?qū)ο筌浖y試相對于面向?qū)ο筌浖治觥⒃O計和編程來說還沒有引起足夠的重視，尤其是多態(tài)對面向?qū)ο筌浖蓽y試的影響還需要進一步研究。多態(tài)是面向?qū)ο筌浖赜械奶卣鳎彩歉割悓ο蟪霈F(xiàn)的地方都可以用子類對象進行替換的多態(tài)稱為對象多態(tài)；同一個消息可以被不同對象接受而產(chǎn)生不同行為的多態(tài)稱為消息多態(tài)。
測試順序（Test Order）是面向?qū)ο筌浖蓽y試研究的一個重要問題。文獻[1-4]提出利用對象關系圖（Object-Oriented Graph）研究測試順序，但是這些文獻都沒有涉及到多態(tài)對測試順序的影響。文獻[5]在對象關系圖上增加因消息多態(tài)引起的動態(tài)依賴信息，構(gòu)成擴展對象關系圖（Extended Object-Oriented Graph），作為研究測試順序的測試模型，但是該文沒有考慮對象多態(tài)對交互測試的影響以及沒有給出哪些類之間需要進行兩兩交互測試以及它們之間的測試順序。本文在文獻[5]的基礎之上，在擴展對象關系圖中增加對象多態(tài)信息，并設計算法計算哪些類之間需要進行交互測試以及它們之間的測試順序。
2 擴展對象關系圖
對象關系圖在文獻[1]中首次作為面向?qū)ο蠡貧w測試的測試模型。程序P的對象關系圖是一個有向圖，其中的結(jié)點表示程序P中的類，有向邊表示程序P中類間的依賴關系。繼承、聚集和關聯(lián)關系是面向?qū)ο竽Ｐ椭腥N最為廣泛使用的類間依賴關系。繼承意味著基類中定義的特性可以自動在所有的子類中定義；聚集意味著一個對象是另一個對象的一個組成部分；關聯(lián)意味著兩個對象之間存在著更一般的關系，A關聯(lián)B表示A會存取B中的數(shù)據(jù)成員或A會向B傳遞消息。
定義2.1 G=(V,L,E)表示邊上加標簽的有向圖，其中V={V1,V2,…,Vn}是結(jié)點的有限集合，L={L1,L2,…,Lk}是標簽的有限集合，邊集E⊆V×V×L是帶標簽的邊的有限集合。
定義2.2 面向?qū)ο蟪绦騊的對象關系圖是一個邊上加標簽的有向圖ORG=(V,L,E)，其中集合V中的結(jié)點表示程序P中的類，標簽集L={I,Ag,As}中的元素表示邊上的標簽集合，邊集E=EI∪EAg∪EAs的定義如下：
定義2.3 EI⊆V×V×L是一個有向邊的集合，EI中的有向邊反映的是P中類之間的繼承關系。
定義2.4 EAg⊆V×V×L是一個有向邊的集合，EAg中的有向邊反映的是P中類之間的聚集關系。
定義2.5 EAs⊆V×V×L是一個有向邊的集合，EAs中的有向邊反映的是P中類之間的關聯(lián)關系。
定義2.6 如果一個類在對象關系圖中既沒有被其它類包含又不是其它類的子類，則稱該類為主類。例如，圖1中類A和類F是主類。
定義2.7 設D1(X)是類X靜態(tài)依賴的所有類構(gòu)成的集合。
類X靜態(tài)依賴類Y當且僅當在對象關系圖中存在一條從類X到類Y的有向路徑。例如，圖1中的D1(A)={B,C,D,F,G,H}。
定義2.8 設D2 (X)是類X靜態(tài)和動態(tài)依賴的所有類構(gòu)成的集合。
動態(tài)依賴關系可以從靜態(tài)關系中推導出來。如果類Y是類X的服務類，則在程序執(zhí)行的時候，類X及其所有直接或間接子類動態(tài)依賴Y及其所有直接或間接子類。例如，圖1中的D2(A)={B,C,D,F,G,H,F1,F2}。如果在對象關系圖中用虛邊表示動態(tài)依賴信息，則構(gòu)成的對象關系圖稱為擴展對象關系圖。圖2是圖1加上動態(tài)依賴信息之后形成的擴展對象關系圖。
3 測試順序
測試順序是面向?qū)ο筌浖蓽y試研究的一個重要問題。在面向?qū)ο筌浖蓽y試階段，構(gòu)造一個類對象或類成員函數(shù)的測試樁的代價非常昂貴。因此，假如使用已經(jīng)測試過的組件去測試將要被測試的組件，則可以減少構(gòu)造測試樁的工作量。這個策略的基本思想就是首先測試獨立的組件，然后根據(jù)依賴關系測試有依賴關系的組件。例如，如果測試人員首先測試服務類，然后再測試客戶類，則可以減少構(gòu)造測試樁的工作量。拓撲排序可以用來計算無環(huán)對象關系圖的測試順序。例如，圖1的測試順序為B-C-G-H-F-F1-F2 -D-A-E-A1-A2。如果對象關系圖有環(huán)，則可以采用某種策略臨時刪除某些關聯(lián)邊使之變成無環(huán)的對象關系圖，然后再應用拓撲排序計算相應的測試順序。
測試順序解決的是類的測試順序問題，而沒有解決哪些類之間需要進行兩兩交互測試以及它們之間的測試順序。例如，圖2中需要進行交互測試的有AB,AC,AD,FG,FH,DF,AF,A1E,A1B,A2F,A1F,A1F1,A1F2,A2F1,……，其中AD應該在DF之后測試。下面給出計算需要進行兩兩交互測試的類及其順序的算法。其中，假設對象關系圖中沒有環(huán)（對應的擴展對象關系圖中可能有環(huán)），并且算法從對象關系圖中的主類開始遍歷整個擴展對象關系圖。
步驟1：如果(V,Vi)之間有一條聚集邊，則遞歸處理Vi，遞歸返回時將(V,Vi)插入到測試順序隊列中；
步驟2：如果(V,Vi)之間有一條關聯(lián)邊，則遞歸處理Vi，遞歸返回時將(V,Vi)插入到測試順序隊列中；
步驟3：如果(V,Vi)之間有一條動態(tài)關聯(lián)邊，則將(V,Vi)插入到測試順序隊列中；
步驟4：如果(Vi,V)之間有一條繼承邊，則遞歸處理Vi 。
根據(jù)上述算法可知，如果從圖2中的主類A開始遍歷，則得到的兩兩交互測試及其測試順序為AB-AC-FG-FH-DF-DF1-DF2-AD-AF-AF1-AF2-A1E-A1B -A1F-A1F1-A1F2-A2F-A2F1-A2F2。
4 設計交互測試用例
確定好哪些類之間需要進行兩兩交互測試以及它們之間的測試順序之后便可以設計交互測試用例。
步驟1：確定每個類的設計狀態(tài)。例如，隊列有空、非空和滿三種設計狀態(tài)；
步驟2：根據(jù)交互對象的狀態(tài)組合設計交互測試用例；
步驟3：如果某個交互測試的測試用例數(shù)量太大，則可以使用某種啟發(fā)式策略減少測試用例的設計數(shù)量。
5 結(jié)束語
測試順序是面向?qū)ο筌浖蓽y試的一個重要問題，并給出計算集成測試順序的算法以及設計測試用例的策略。本文提出利用擴展對象關系圖作為測試模型研究集成測試問題。本文只解決了兩個類間的交互測試及其順序問題，多個類間的交互測試及其順序問題還需要進一步研究。
參考文獻：
[1] KUNG D C, GAO J, HSIA P, et al. Class firewall, test order, and regression testing of object-oriented programs[J]. Journal of Object-Oriented Programming, 1995, 8(2): 239-244.
[2] TAI K C, DANIELS F J. Test order for inter-class integration testing of object-oriented software[C]. Proceedings of the CompsAC'97-21st International Computer Software and Applications conference, 1997: 602-607.
[3] TRAON Y L, JéRON T, JéZéQUEL J M, et al. Efficient object-oriented integration and regression testing [J]. IEEE Transactions on Reliability, 2000, 49(1):12-25.
篇8
目前，國內(nèi)外運放測試儀(或者模擬器件測試系統(tǒng))主要存在以下幾種校準方案：校準板法、標準樣片法和標準參數(shù)模擬法。各校準方案校準項目、優(yōu)缺點和相關情況的比較如表1所示。
比較以上三種方案可知，前兩種方法只是校準儀器內(nèi)部使用的PMU單元、電流源、電壓源等，并不涉及到儀器本身閉環(huán)測試電路部分，局限性很大，很難保證運放測試儀的集成運放器件參數(shù)測試精度。而標準參數(shù)模擬法直接面向測試夾具，其校準方法具有一定可行性，只是在校準精度、通用性、測試自動化程度等方面需要進一步的研究。因此，通過對標準參數(shù)模擬法加以改進，對運放測試儀進行校準，開發(fā)出集成運放參數(shù)測試儀校準裝置，在參數(shù)精度和校準范圍上，能滿足國內(nèi)大多數(shù)運放測試儀，在通用性上，能夠校準使用“閉環(huán)測試原理”的儀器。
系統(tǒng)性能要求
本課題的主要任務是通過研究國內(nèi)外運放測試儀的校準方法，改進實用性較強的標準參數(shù)模擬法，用指標更高的參數(shù)標準來校準運放測試儀，實現(xiàn)運放測試儀的自動化校準以及校準原始記錄、校準證書的自動生成等。
表2為本課題中研制的集成運放參數(shù)測試儀校準裝置與市場上典型運放測試儀的技術指標比較情況。從表2可以看出，校準裝置技術指標可以校準市場上的典型運放測試儀。
校準裝置的硬件設計方案
校準方案覆蓋了市場上運放測試儀給出的大部分參數(shù)，其中包括輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流等10個參數(shù)。通過研究集成運放參數(shù)“閉環(huán)測試原理”可知：有的參數(shù)校準要用到“閉環(huán)測試回路”，有的直接接上相應的標準儀器進行測量即可實現(xiàn)對儀器的校準。對于用到“閉環(huán)測試回路”的幾個參數(shù)而言，主要通過補償電源裝置和模擬電源裝置來校準。運放測試儀總體校準方案如圖1所示。
1 校準電路設計
輸入失調(diào)電壓V的定義為使輸出電壓為零(或者規(guī)定值)時，兩輸入端所加的直流補償電壓。集成運放可模擬等效為輸入端有一電壓存在的理想集成運算放大器，校準原理如圖2所示。通過調(diào)節(jié)補償電源裝置給輸入一個與V。電壓等量相反的電壓V輸入就可等效為V=V1+V=0，則被測集成運放與接口電路等效為一輸入失調(diào)電壓為零的理想運算放大器。然后，調(diào)節(jié)模擬電源裝置，給定模擬標準運放輸入失調(diào)電壓參數(shù)值。通過數(shù)字多用表讀數(shù)與被校運放測試儀測試值比較，計算出誤差值，完成V參數(shù)校準。
2 單片機控制電路設計
單片機采用AT89S51，這是一個低功耗、高性能CMOS 8位單片機，片內(nèi)含可反復擦寫1000次的4KB ISP(In-system programmable)Flash ROM。其采用ATMEL公司的高密度、非易失性存儲技術制造，兼容標準MCS-5 1指令系統(tǒng)及80C51引腳結(jié)構(gòu)，集成了通用8位中央處理器和ISP Flash存儲單元。
本設計中，采用單片機控制信號繼電器來實現(xiàn)電路測試狀態(tài)轉(zhuǎn)換，信號繼電器選用的是HKE公司的HRS2H-S-DC5V，能夠快速完成測試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換，只需單片機5V供電電源即可，便于完成參數(shù)的校準。此外，繼電器跳變由PNP三極管$8550來驅(qū)動完成。
3 液晶顯示電路設計
智能彩色液晶顯示器VK56B是上海廣電集團北京分公司的產(chǎn)品，具有體積小、功耗低、無輔射、壽命長、超薄、防振及防爆等特點。該LCD采用工業(yè)級的CPU，機內(nèi)配置有二級字庫，可通過串口或三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口接收控制命令數(shù)據(jù)，并自行對接收的命令和數(shù)據(jù)進行處理，以實時顯示用戶所要顯示的各種曲線、圖形和中西文字體。AT89S5 1與智能化液晶VK56B的接口電路如圖3所示。單片機與LED采用并行通信設計，LCD自身具有一個三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口(并口為CMOS電平)，可以同主機進行通信。它外部有12條線同單片機相連，即DO-D7、WRCS、BUSY、INT和GND。其中，WRCS為片選信號和寫信號的邏輯或非，上升沿有效，BUSY信號為高(CMOS電平)表示忙，INT為中斷申請信號，低電平有效。
集成運放參數(shù)測試儀校準裝置軟件設計
軟件部分包括上位機軟件和下位機軟件設計。上位機軟件完成PC與單片機的通信以及校準數(shù)據(jù)處理等工作；下位機軟件即單片機源程序。本設計使用Keil C完成測試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換、與上位機串行通信以及測試參數(shù)的實時顯示等。
1 上位機軟件設計
上位機軟件主要分為三部分：參數(shù)設置部分主要完成被校運放測試儀信息錄入，校準部分完成各參數(shù)的校準，數(shù)據(jù)處理部分完成校準證書及原始記錄的自動化報表。上位機軟件主對話框如圖4所示。“參數(shù)設置”部分主要完成被校運放測試儀的資料錄入；“校準”部分主要通過下位機配合完成輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流等10個參數(shù)的校準過程；“生成校準證書”、“生成原始記錄”、“預覽校準證書”、“預覽原始記錄”主要實現(xiàn)校準數(shù)據(jù)的自動化處理。
2 下位機軟件設計
下位機軟件主要通過Keil C進行編寫，通過下位機軟件完成校準參數(shù)的動態(tài)顯示以及測試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換等。其包括兩個部分，一部分是ST7920液晶驅(qū)動程序，另外一部分是單片機串口通信程序。這里簡要介紹一下VK56B液晶驅(qū)動程序的編寫。圖5是LCD的時序圖。其中，TW為WRCS信號的脈沖寬度，TSU為數(shù)據(jù)建立時間，TH為數(shù)據(jù)保持時間。這些參數(shù)的具體要求為：TW不小于16ns，TSU不小于12ns，T大于0ns，TH不小于5ns，TI不小于2us。
校準裝開發(fā)過程中需要注意的一些問題
接口電路的器件由高分辨率、高穩(wěn)定、低紋波系數(shù)電源供電，接口電路的器件偏置電源采用電池供電。
校準接口電路單元中的標準電阻采用溫度系數(shù)小且準確度優(yōu)于0.02％的標準電阻，然后再經(jīng)加電老化進行篩選。
校準接口電路單元的輔助電路和補償網(wǎng)絡的制作關鍵是不能引入會對被校儀器產(chǎn)生噪聲，自激振蕩等的影響量。在電路板制作中，注意布線、元件排序、良好接地以及箱體的電磁屏蔽。
為保證標準參數(shù)標準不確定度，將購置國外不同型號符合要求的器件進行嚴格篩選作為驗證用標準樣片，并利用標準樣片與國內(nèi)性能和穩(wěn)定性好的進口、國產(chǎn)測量(器具)系統(tǒng)進行比對驗證。
測試用輔助樣管，一定要滿足表的指標規(guī)定(選用表3中輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流等參數(shù)允許值的輔助樣片校準被檢運放測試儀)，否則將造成測量結(jié)果的不準確。
篇9
2 電傳操縱系統(tǒng)測試技術研究
2.1與傳統(tǒng)操縱系統(tǒng)在測試上的區(qū)別
在測試上，電傳操縱系統(tǒng)與傳統(tǒng)系統(tǒng)主要存在如下區(qū)別：傳統(tǒng)操縱系統(tǒng)的測試重點，主要是檢查系統(tǒng)的間歇，調(diào)整桿舵的傳動比；對于帶自動駕駛儀的傳統(tǒng)操縱系統(tǒng)，還要檢要傳感器到舵面的傳動比；電傳操縱系統(tǒng)一般不直接檢查傳動比，而是檢查各傳感器傳給飛控計算機的精度，以及舵機執(zhí)行飛控計算機指令的精度；電傳操縱系統(tǒng)需進行各種故障功能的檢查與測試；電傳操縱系統(tǒng)可以通過飛行測試接口，讀取（采集）系統(tǒng)的工作狀態(tài)。
2.2 試驗設計基本思路
通過上述的分析，電傳操縱系統(tǒng)內(nèi)場集成試驗設計的基本思路為：試驗應盡量覆蓋技術規(guī)范或通電技術條件中常溫下的技術要求；對影響被試成品的壽命的測試項目，在生產(chǎn)試驗階段應略去；試驗驗內(nèi)容的確定，應兼顧生產(chǎn)進度和設備投入；配備的試驗設備和測試系統(tǒng)的功能應能覆蓋選定的測試科目。
2.3 電傳操縱系統(tǒng)內(nèi)場集成測試的重難點及主要困難
電傳操縱系統(tǒng)在內(nèi)場進行集成測試時，主要有以下幾個測試重難點。
2.3.1 系統(tǒng)余度管理測試。在余度管理的測試方法設計上，基本分為模塊測試與程序驗證、程序測試、系統(tǒng)確定和飛行測試四個階段。對于在總裝裝機前階段的驗證主要是在半實物半物理模擬試驗平臺上進行的系統(tǒng)確認。在整個測試過程中，測試路徑的選擇很重要，這就需要在進行系統(tǒng)試驗的過程中，有目的對盡可能多的邏輯通路組合進行檢查。
2.3.2 控制律測試。電傳操縱系統(tǒng)的控制律直接關系到飛行安全。在內(nèi)場集成測試中，可通過FTI設備控制、監(jiān)控飛控計算機的運行，實現(xiàn)構(gòu)型定義、程序加載、存儲器驗證、宏執(zhí)行、斷點定義等功能，完成對飛行控制計算機控制律的測試。這種測試方式的優(yōu)點在于可以靈活的選擇起飛、巡航、著陸各階段各狀態(tài)點的控制律測試，測試點的選擇可根據(jù)系統(tǒng)可靠性的提高逐步減少。
2.3.3系統(tǒng)配套不全時的測試。受生產(chǎn)條件影響，飛行控制系統(tǒng)經(jīng)常出現(xiàn)配套不全的狀態(tài)，若待配套齊全后再進行內(nèi)場集成測試，會嚴重影響飛機交付周期。針對此類實際問題，提出以下解決方案：對于系統(tǒng)內(nèi)部的主要傳感器、作動器和控制板等部件建立仿真模型，可靈活進行實物與仿真模型的切換，以滿足缺件情況下的測試要求。同時，多模型的構(gòu)建對于余度管理測試及故障地面復現(xiàn)提供了更便捷的試驗條件。
2.3.4大部件成品的安裝。電傳飛控系統(tǒng)內(nèi)場集成測試環(huán)境中存在數(shù)量巨大的液壓管路和作動器，因此在系統(tǒng)試驗室建設時需考慮設計合理的工裝工具以提高安裝可靠性及工作效率。
3電傳飛控系統(tǒng)內(nèi)場集成測試環(huán)境的構(gòu)建
基于以上對電傳飛控系統(tǒng)的原理及測試技術的研究，若想構(gòu)建一套完備的測試平臺，應至少包含以下幾大部分。
3.1電傳系統(tǒng)綜合試驗器。為整個系統(tǒng)提供供電、配套的硬件平臺，提供狀態(tài)指示和告警裝置，提供人機交互接口，可完成飛行控制系統(tǒng)的開、閉環(huán)試驗，可對輸入輸出飛控系統(tǒng)計算機的信號設置斷連點和檢測端；顯示飛行控制系統(tǒng)得各種工作狀態(tài)、故障狀態(tài)；飛行控制系統(tǒng)設置激勵注入和反饋采集端。
3.2綜合飛行測試系統(tǒng)。實現(xiàn)測試設備與電傳飛行控制計算機的通訊，獲取電傳飛行控制系統(tǒng)各設備運行狀態(tài)、各信號的狀態(tài)，以及系統(tǒng)運行參數(shù)等，按照電傳飛行控制系統(tǒng)參數(shù)、狀態(tài)的定義，對上述狀態(tài)信息和參數(shù)進行解析。
3.3仿真和監(jiān)控設備。可提供各類傳感器和檢測裝置仿真、航電系統(tǒng)信號仿真、非航電系統(tǒng)信號仿真等各種仿真信號，實現(xiàn)與飛行控制系統(tǒng)的信號傳輸與通訊；監(jiān)控并測試飛行控制系統(tǒng)內(nèi)部及與其他分系統(tǒng)之間的各種通訊信號的正確性。
3.4飛行控制系統(tǒng)操縱裝置。飛行控制系統(tǒng)操縱裝置采用虛擬仿真或物理模擬的形式，實現(xiàn)操縱系統(tǒng)的仿真，為電傳飛行控制系統(tǒng)提供指令輸入。
3.5飛行控制系統(tǒng)測試激勵設備。可對飛行控制系統(tǒng)提供信號源，并為加速度計、速率陀螺等提供激勵輸入。
3.6故障注入單元。可實現(xiàn)飛行控制系統(tǒng)計算機、傳感器、作動器等成品的故障模擬和注入，檢查飛行控制系統(tǒng)的故障報警功能。
3.7飛行仿真系統(tǒng)。在飛行仿真系統(tǒng)的驅(qū)動下，可完成飛機相關狀態(tài)的仿真，形成完整的飛機閉環(huán)環(huán)境。
3.8地面電源系統(tǒng)
3.9地面液壓系統(tǒng)
結(jié)語
本文針對電傳操縱系統(tǒng)的內(nèi)場集成測試提出了一些思路與想法，具體實施測試環(huán)境設計與建設時可根據(jù)實際情況進行相應調(diào)整，如可根據(jù)實際參加集成試驗的試驗件種類增減仿真監(jiān)控設備的種類和數(shù)量等，希望可供實際工作參考。
參考文獻
篇10
近些年來，微電子技術的集成度每過一年半就會翻一番，前后30年的時間里其尺寸縮小了近1000倍，而性能增強了1萬倍。目前，歐美發(fā)達國家的IC 產(chǎn)業(yè)已經(jīng)非常專業(yè)，使設計、制造、封裝以及測試形成了共同發(fā)展的情形。因為測試集成電路可以作為設計、制造以及封裝的補充，使其得到了迅速發(fā)展[1]。
我國經(jīng)濟處于穩(wěn)定增長中。目前，全球半導體產(chǎn)業(yè)都在重點關注我國的集成電路產(chǎn)業(yè)，因為我國存在著龐大市場、廉價勞動力以及非常優(yōu)越的政策支持等，因此，我國的集成電路產(chǎn)業(yè)在近幾年有了迅速的發(fā)展。而計算機、通信以及電子類技術也被集成電路產(chǎn)業(yè)帶動發(fā)展，而廣泛地使用互聯(lián)網(wǎng)也產(chǎn)生了很多新興產(chǎn)業(yè)。與此同時，對集成電路進行測試的服務業(yè)也得到了很大發(fā)展。現(xiàn)如今，集成電路在我國有世界第二大市場，但是國內(nèi)的自給率低于25%，特別是在計算機CPU上，國內(nèi)技術與歐美發(fā)達國家還存在較大的差距。
微電子技術的發(fā)展已經(jīng)邁進納米與SoC（系統(tǒng)級芯片）時期，而CPU時鐘也已進入GHz，在發(fā)展高端的集成電路產(chǎn)業(yè)上，我國還需要繼續(xù)努力，與發(fā)達國家縮小差距。尤其與集成電路測試相關的技術一直是國內(nèi)發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的薄弱點，因此，必須逐步提升集成電路的測試能力。
2我國集成電路測試技術能力現(xiàn)狀
上世紀七十年代，我國開始系統(tǒng)地研發(fā)集成電路的測試技術。經(jīng)過40年的實際，我國的集成電路已經(jīng)從開發(fā)硬件和軟件發(fā)展到系統(tǒng)集成，從仿制他國變成了獨立研發(fā)。伴隨著集成電路產(chǎn)業(yè)在我國飛速發(fā)展，與之相關的檢測技術與服務也發(fā)揮著越來越大的作用，公共測試的也有了更大的需求，國內(nèi)出現(xiàn)了一大批專業(yè)芯片測試公司進行封裝測試板塊。而集成電路的測試產(chǎn)業(yè)在一定程度上補充了設計、制造以及封裝，使這些產(chǎn)業(yè)得到飛速發(fā)展。
但是，因為IC芯片的應用技術需要越來越高的要求與性能，所以必須提高測試芯片的要求。對于國內(nèi)剛步入正軌的半導體行業(yè)來說，其測試能力與IC設計、制造和封裝相比較是很薄弱的一個環(huán)節(jié)。尤其是產(chǎn)品已經(jīng)邁進性能較高的CPU和DSP 時代，而高性能的CPU和DSP產(chǎn)品的發(fā)展速度遠高于其他各類IC產(chǎn)品。相比較于設計行業(yè)的飛速發(fā)展，國內(nèi)的測試業(yè)的非常落后，不但遠遠跟不上發(fā)達國家的步伐，也不能完全滿足國內(nèi)集成電路發(fā)展的需求，從根本上制約著我國集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，缺少可以獨立完成專業(yè)測試的公司，不能完全滿足國內(nèi)IC設計公司的分析驗證與測試需要，已經(jīng)是我國發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的瓶頸。盡管有很多外企在我國設置了測試機構(gòu)，但是他們中的大部分都不會提供對外測試的服務，即便提供服務，也極少對小批量的高端產(chǎn)品進行測試開發(fā)、生產(chǎn)測試和驗證。目前國內(nèi)對于一些高端技術的集成電路產(chǎn)品的測試通常是到國外進行。而對于IC發(fā)展，不僅僅對其測試設備有著新要求，測試技術人員也必須有較高的素質(zhì)。將硬件和軟件進行有機結(jié)合，完善管理制度，才可以保證測試IC的質(zhì)量，從而使整機系統(tǒng)的可靠性得到保障[2]。因此，必須加快建設國內(nèi)獨立的專業(yè)化集成電路測試公司，逐步在社會中展開測試芯片的工作，能夠大量減少測試時間，增強測試效果，最終使企業(yè)減少測試花銷，從根本上解決我國測試能力現(xiàn)存的問題，才能夠加強集成電路設計和制造能力，從而使國內(nèi)的集成電路產(chǎn)業(yè)得到發(fā)展。
3我國集成電路測試的發(fā)展策略
伴隨著不斷壯大的IC 設計公司，關于集成電路產(chǎn)業(yè)的分工愈發(fā)精細，建立一個有著強大公信力的中立測試機構(gòu)進行專業(yè)化的服務測試，是國內(nèi)市場發(fā)展的最終趨勢與要求。因此，系統(tǒng)地規(guī)劃和研究集成電路測試業(yè)的策略，對設計、制造與封裝進行強有力的技術支撐，必將使集成電路產(chǎn)業(yè)得到飛速發(fā)展。以下是使我國集成電路測試產(chǎn)業(yè)得到進一步發(fā)展的建議：
3.1發(fā)展低成本測試技術
目前，我國的高端IC 產(chǎn)品還沒有占據(jù)很高的比例，市場主要還是被低檔與民用的消費類產(chǎn)品占據(jù)，例如MP3 IC、音視頻處理IC、電源管理IC以及功率IC等，其使用的芯片售價本來就比較低，所以沒有能力承受非常昂貴的測試費，因此企業(yè)需要比較低成本的測試。這就從根本上決定國內(nèi)使用的IC 測試設備還不具有很高的檔次，所以，選擇測試系統(tǒng)時主要應該注重經(jīng)濟實惠以及有合適技術指標的機型。
3.2研發(fā)高端測試技術
伴隨著半導體工藝的迅速發(fā)展，IC產(chǎn)品中的SoC占據(jù)了很大的比重，產(chǎn)值也越來越多。但是SoC在產(chǎn)業(yè)化以前需要通過測試。所以，快速發(fā)展的SoC 市場給其相關測試帶來了非常大的市場需要。在進入SoC時代之后，測試行業(yè)同時面臨著挑戰(zhàn)和機遇。SoC的測試需要耗費大量的時間，必須生產(chǎn)很多測試圖形與矢量，還必須具有足夠大的故障覆蓋率。以后，SoC會逐漸變成設計集成電路主要趨勢。為了良好地適應IC 設計的發(fā)展，對于測試高端芯片技術也必須進行儲備，測試集成電路的高端技術的研究應該快于IC設計技術的發(fā)展[3]。
4結(jié)束語
我國作為世界第二大生產(chǎn)集成電路的國家，目前測試集成電路的技術還比較落后，比較缺乏設計高水平測試集成電路裝備的能力。對集成電路進行測試是使一個國家良好發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)不可或缺的條件。集成電路企業(yè)需要不斷地增強測試技術的消化、吸收以及創(chuàng)新，政府也需要發(fā)揮自身的導向性，為集成電路企業(yè)設計和建立服務性的測試平臺。
參考文獻：
篇11
Analysis of IC test principle and vector generation method
集成電路測試（IC測試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高，集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測試，有著重要的意義。而測試向量作為IC測試中的重要部分，研究其生成方法也日漸重要。
1 IC測試
1.1 IC測試原理
IC測試是指依據(jù)被測器件（DUT）特點和功能，給DUT提供測試激勵（X），通過測量DUT輸出響應（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測試的基本原理模型。
根據(jù)器件類型，IC測試可以分為數(shù)字電路測試、模擬電路測試和混合電路測試。數(shù)字電路測試是IC測試的基礎，除少數(shù)純模擬IC如運算放大器、電壓比較器、模擬開關等之外，現(xiàn)代電子系統(tǒng)中使用的大部分IC都包含有數(shù)字信號。
數(shù)字IC測試一般有直流測試、交流測試和功能測試。
1.2 功能測試
功能測試用于驗證IC是否能完成設計所預期的工作或功能。功能測試是數(shù)字電路測試的根本，它模擬IC的實際工作狀態(tài)，輸入一系列有序或隨機組合的測試圖形，以電路規(guī)定的速率作用于被測器件，再在電路輸出端檢測輸出信號是否與預期圖形數(shù)據(jù)相符，以此判別電路功能是否正常。其關注的重點是圖形產(chǎn)生的速率、邊沿定時控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等[1]。
功能測試分靜態(tài)功能測試和動態(tài)功能測試。靜態(tài)功能測試一般是按真值表的方法，發(fā)現(xiàn)固定型（Stuck?at）故障[2]。動態(tài)功能測試則以接近電路工作頻率的速度進行測試，其目的是在接近或高于器件實際工作頻率的情況下，驗證器件的功能和性能。
功能測試一般在ATE（Automatic Test Equipment）上進行，ATE測試可以根據(jù)器件在設計階段的模擬仿真波形，提供具有復雜時序的測試激勵，并對器件的輸出進行實時的采樣、比較和判斷。
1.3 交流參數(shù)測試
交流（AC）參數(shù)測試是以時間為單位驗證與時間相關的參數(shù)，實際上是對電路工作時的時間關系進行測量，測量諸如工作頻率、輸入信號輸出信號隨時間的變化關系等。常見的測量參數(shù)有上升和下降時間、傳輸延遲、建立和保持時間以及存儲時間等。交流參數(shù)最關注的是最大測試速率和重復性能，然后為準確度。
1.4 直流參數(shù)測試
直流測試是基于歐姆定律的，用來確定器件參數(shù)的穩(wěn)態(tài)測試方法。它是以電壓或電流的形式驗證電氣參數(shù)。直流參數(shù)測試包括：接觸測試、漏電流測試、轉(zhuǎn)換電平測試、輸出電平測試、電源消耗測試等。
直流測試常用的測試方法有加壓測流（FVMI）和加流測壓（FIMV）[3]，測試時主要考慮測試準確度和測試效率。通過直流測試可以判明電路的質(zhì)量。如通過接觸測試判別IC引腳的開路/短路情況、通過漏電測試可以從某方面反映電路的工藝質(zhì)量、通過轉(zhuǎn)換電平測試驗證電路的驅(qū)動能力和抗噪聲能力。
直流測試是IC測試的基礎，是檢測電路性能和可靠性的基本判別手段。
1.5 ATE測試平臺
ATE（Automatic Test Equipment）是自動測試設備，它是一個集成電路測試系統(tǒng)，用來進行IC測試。一般包括計算機和軟件系統(tǒng)、系統(tǒng)總線控制系統(tǒng)、圖形存儲器、圖形控制器、定時發(fā)生器、精密測量單元（PMU）、可編程電源和測試臺等。
系統(tǒng)控制總線提供測試系統(tǒng)與計算機接口卡的連接。圖形控制器用來控制測試圖形的順序流向，是數(shù)字測試系統(tǒng)的CPU。它可以提供DUT所需電源、圖形、周期和時序、驅(qū)動電平等信息。
2 測試向量及其生成
測試向量（Test Vector）的一個基本定義是：測試向量是每個時鐘周期應用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。這一定義聽起來似乎很簡單，但在真實應用中則復雜得多。因為邏輯1和邏輯0是由帶定時特性和電平特性的波形代表的，與波形形狀、脈沖寬度、脈沖邊緣或斜率以及上升沿和下降沿的位置都有關系。
2.1 ATE測試向量
在ATE語言中，其測試向量包含了輸入激勵和預期存儲響應，通過把兩者結(jié)合形成ATE的測試圖形。這些圖形在ATE中是通過系統(tǒng)時鐘上升和下降沿、器件管腳對建立時間和保持時間的要求和一定的格式化方式來表示的。格式化方式一般有RZ（歸零）、RO（歸1）、NRZ（非歸零）和NRZI（非歸零反）等[4]。
圖2為RZ和R1格式化波形，圖3為NRZ和NRZI格式化波形。
RZ數(shù)據(jù)格式，在系統(tǒng)時鐘的起始時間T0，RZ測試波形保持為“0”，如果在該時鐘周期圖形存儲器輸出圖形數(shù)據(jù)為“1”，則在該周期的時鐘周期期間，RZ測試波形由“0”變換到“1”，時鐘結(jié)束時，RZ測試波形回到“0”。若該時鐘周期圖形存儲器輸出圖形數(shù)據(jù)為“0”，則RZ測試波形一直保持為“0”，在時鐘信號周期內(nèi)不再發(fā)生變化。歸“1”格式（R1）與RZ相反。
非歸“0”（NRZ）數(shù)據(jù)格式，在系統(tǒng)時鐘起始時間T0，NRZ測試波形保持T0前的波形，根據(jù)本時鐘周期圖形文件存儲的圖形數(shù)據(jù)在時鐘的信號沿變化。即若圖形文件存儲數(shù)據(jù)為“1”，那么在相應時鐘邊沿，波形則變化為“1”。NRZI波形是NRZ波形的反相。
在ATE中，通過測試程序?qū)r鐘周期、時鐘前沿、時鐘后沿和采樣時間的定義，結(jié)合圖形文件中存儲的數(shù)據(jù)，形成實際測試時所需的測試向量。
ATE測試向量與EDA設計仿真向量不同，而且不同的ATE，其向量格式也不盡相同。以JC?3165型ATE為例，其向量格式如圖4所示。
ATE向量信息以一定格式的文件保存，JC?3165向量文件為 *.MDC文件。在ATE測試中，需將*.MDC文件通過圖形文件編譯器，編譯成測試程序可識別的*.MPD文件。在測試程序中，通過裝載圖形命令裝載到程序中。
圖4 ATE測試向量格式
2.2 ATE測試向量的生成
對簡單的集成電路，如門電路，其ATE測試向量一般可以按照ATE向量格式手工完成。而對于一些集成度高，功能復雜的IC，其向量數(shù)據(jù)龐大，一般不可能依據(jù)其邏輯關系直接寫出所需測試向量，因此，有必要探尋一種方便可行的方法，完成ATE向量的生成。
在IC設計制造產(chǎn)業(yè)中，設計、驗證和仿真是不可分離的。其ATE測試向量生成的一種方法是，從基于EDA工具的仿真向量（包含輸入信號和期望的輸出），經(jīng)過優(yōu)化和轉(zhuǎn)換，形成ATE格式的測試向量。
依此，可以建立一種向量生成方法。利用EDA工具建立器件模型，通過建立一個Test bench仿真驗證平臺，對其提供測試激勵，進行仿真，驗證仿真結(jié)果，將輸入激勵和輸出響應存儲，按照ATE向量格式，生成ATE向量文件。其原理如圖5所示。
2.3 測試平臺的建立
（1） DUT模型的建立
① 164245模型：在Modelsim工具下用Verilog HDL語言[5]，建立164245模型。164245是一個雙8位雙向電平轉(zhuǎn)換器，有4個輸入控制端：1DIR，1OE，2DIR，2OE；4組8位雙向端口：② 緩沖器模型：建立一個8位緩沖器模型，用來做Test bench與164245之間的數(shù)據(jù)緩沖，通過在Test bench總調(diào)用緩沖器模塊，解決Test bench與164245模型之間的數(shù)據(jù)輸入問題。
（2） Test bench的建立
依據(jù)器件功能，建立Test bench平臺，用來輸入仿真向量。
通過Test bench 提供測試激勵，經(jīng)過緩沖區(qū)接口送入DUT，觀察DUT輸出響應，如果滿足器件功能要求，則存儲數(shù)據(jù)，經(jīng)過處理按照ATE圖形文件格式產(chǎn)生*.MDC文件；若輸出響應有誤，則返回Test bench 和DUT模型進行修正。其原理框圖可表示如圖6所示。
（3） 仿真和驗證
通過Test bench 給予相應的測試激勵進行仿真，得到預期的結(jié)果，實現(xiàn)了器件功能仿真，并獲得了測試圖形。圖7和圖8為部分仿真結(jié)果。
在JC?3165的*.MDC圖形文件中，對輸入引腳，用“1”和“0”表示高低電平；對輸出引腳，用“H”和“L”表示高低電平；“X”則表示不關心狀態(tài)。由于在仿真時，輸出也是“0”和“1”，因此在驗證結(jié)果正確后，對輸出結(jié)果進行了處理，分別將“0”和“1”轉(zhuǎn)換為“L”和“H”，然后放到存儲其中，最后生成*.MDC圖形文件。
3 結(jié) 論
本文在Modelsim環(huán)境下，通過Verilog HDL語言建立一個器件模型，搭建一個驗證仿真平臺，對164245進行了仿真，驗證了164245的功能，同時得到了ATE所需的圖形文件，實現(xiàn)了預期所要完成的任務。
隨著集成電路的發(fā)展，芯片設計水平的不斷提高，功能越來越復雜，測試圖形文件也將相當復雜且巨大，編寫出全面、有效，且基本覆蓋芯片大多數(shù)功能的測試圖形文件逐漸成為一種挑戰(zhàn)，在ATE上實現(xiàn)測試圖形自動生成已不可能。因此，有必要尋找一種能在EDA工具和ATE測試平臺之間的一種靈活通訊的方法。
目前常用的一種方法是，通過提取EDA工具產(chǎn)生的VCD仿真文件中的信息，轉(zhuǎn)換為ATE測試平臺所需的測試圖形文件[6]，這需要對VCD文件有一定的了解，也是進一步的工作。
參考文獻
[1] 陳明亮.數(shù)字集成電路自動測試硬件技術研究[D].成都：電子科技大學，2010.
[2] 時萬春.現(xiàn)代集成電路測試技術[M].北京：化學工業(yè)出版社，2006.
[3] 譚永良，伍廣鐘，崔華醒，等.自動測試設備加流測壓及加壓測流的設計[J]電子技術，2011（1）：68?69.
篇12
集成測試的目的是通過測試來發(fā)現(xiàn)和接口有關的錯誤，即把通過了單元測試的模塊組裝起來測試。類間存在的多種關系是測試順序的一個重要依據(jù)。選擇不同的測試順序?qū)Q定著測試的結(jié)果，如何尋找使得測試最為有效的測試順序是面向?qū)ο筌浖蓽y試的一個重要問題[12]。
本文將類圖中的類內(nèi)信息，類間信息提取出來，并計算每個類的內(nèi)聚度，以及類間耦合度，同時把每個類看作有向圖的結(jié)點，類的內(nèi)聚度作為結(jié)點的權值，類間耦合度作為關系的權值，并根據(jù)動態(tài)綁定存在的條件，添加可能的類間動態(tài)線索。最后利用深度與廣度結(jié)合的遍歷算法遍歷該有向圖生成集成測試的測試序列。
1擴展有向圖模型的定義
4結(jié)語
本文針對UML類圖中提取的信息，計算與類相關的信息，獲得對象動態(tài)加權有向圖，然后從有向圖中進行遍歷，生成集成測試測試序列。該算法不需要去除圖中的環(huán)，生成方法簡單有效，在實際需要中得到了驗證，但隨著類圖的增加，測試序列數(shù)量會加大，導致序列的生成速度有所影響。因此下一步的工作是研究如何進行更有效的遍歷，同時在下一步工作中進一步研究類間耦合度和類內(nèi)聚度，使得圖中每個結(jié)點的權值獲取和邊的權值獲取更加的科學。
參考文獻
[1]JORGENSENPC，ERICKSONC.Objectorientedintegrationtesting[J].CACM，1994，37（9）：3038.
[2]吳靜莉，韓松峰.基于UML集成測試模型的生成方法[J].微電子學與計算機，2008（7）：913.
[3]陳樹峰.面向?qū)ο筌浖囊蕾囆苑治雠c回歸測試[J].計算機應用，2009（6）：2932，54.
[4]林紅昌，胡覺亮.基于Petri網(wǎng)的軟件測試用例的產(chǎn)生和分析[J].計算機工程與應用，2009（10）：3033.
[5]FOWLERM.UML精粹標準對象建模語言簡明指南[M].徐家福，譯.北京：清華大學出版社，2005.
[6]AIKC，DANIELSFJ.InterclasstestorderforobjectorientedSoftware[J].JournalofObjectOrientedProgramming，1999，12（4）：1825.
篇13
一、案例概述
天津小蜜蜂計算機技術有限公司（簡稱小蜜蜂公司）成立于2005年，主營RFID、通信、無線、樓宇智能化的系統(tǒng)集成及軟件開發(fā)，并致力于成為領先的信息技術與物聯(lián)網(wǎng)業(yè)務解決方案供應商。小蜜蜂公司一直重視為倉儲物流領域提供具有先進的技術產(chǎn)品和服務，幫助客戶建立智慧型倉儲物流管理體系。2017年3月，小蜜蜂公司成功完成了RFID應用于某大型物流企業(yè)冷鏈倉儲管理項目的集成測試，此次項目測試主要在客戶的Smart WMS智慧倉庫管理系統(tǒng)中融入RFID技術，并將該技術應用于冷鏈倉儲業(yè)務流程中，包括理貨、備貨、標識、入庫上架、移庫、出庫下架等業(yè)務。小蜜蜂公司旨在通過此次測試與客戶一起實踐，讓客戶真正了解RFID技術在冷鏈倉儲管理中的應用效果，幫助其有效解決業(yè)務效率低下、業(yè)務操作流程混亂、倉庫商品信息不全面、盤點不精準等倉儲管理問題，實現(xiàn)對冷鏈倉儲管理業(yè)務的高效管理。
在測試實施前，小蜜蜂公司的Smart WMS團隊多次組織項目現(xiàn)場勘察和調(diào)研活動，并與客戶積極溝通與交流，為制定合理可行的解決方案做準備。同時，小蜜蜂公司成立了專門的項目小組，并由其制定測試計劃表，在測試準備期間，小蜜蜂公司團隊對客戶的倉儲管理業(yè)務流程進行了詳細分析，并按照倉儲業(yè)務流程，進行RFID中間件以及應用軟件的開發(fā)。經(jīng)過充分的測試準備后，小蜜蜂公司團隊開始進入現(xiàn)場進行測試，工作人員與設備進入倉庫現(xiàn)場后，在叉車上進行RFID設備集成安裝，并采用公司自主設計和制作的鋁合金支架，對電源、車載式讀寫器、天線、平板電腦等設備進行可調(diào)整式固定。集成安裝完成后，工作人員開展了卸貨與碼貨作業(yè)，并在集裝箱內(nèi)、碼貨、取貨叉托盤過程中進行RFID讀取測試，進而依據(jù)測試數(shù)據(jù)調(diào)整軟件參數(shù)、天線角度和設置策略；之后，小蜜蜂公司團隊在每層貨架上安裝了RFID電子貨位標簽，并進行了上架和下架測試，進一步將貨物讀取標簽安裝在叉車上，以獲取精準的貨物位置信息，最后通過平板電腦顯示上述信息。整個上架和下架測試持續(xù)了一天半的時間，期間小蜜蜂團隊多次對RFID中間件、讀取托盤標簽與貨架標簽的天線、參數(shù)設置分別做出相應調(diào)整，以確保測試的準確性。完成上述測試后，小蜜蜂團隊運用與測試相匹配的設備，陸續(xù)在現(xiàn)場進行了平面?zhèn)}庫RFID測試、高位叉車RFID測試和自動化倉庫固定式RFID讀寫器測試，并取得了較為滿意的數(shù)據(jù)讀取率、數(shù)據(jù)采集靈活度和數(shù)據(jù)反饋效率。
此次RFID技術應用于冷鏈倉儲管理的測試項目，是一種以客戶需求和具體環(huán)境為中心的應用測試。測試對象包括整個方案的過程和結(jié)果，其開展的場景與實際應用環(huán)境非常接近。同時，測試團隊以實現(xiàn)精益化冷鏈倉儲管理為目標，將客戶倉儲管理業(yè)務流程與軟件的智能算法相結(jié)合，以確定最佳的解決方案，為RFID應用于冷鏈倉儲管理項目的具體實施提供了保障。
二、RFID應用成功的經(jīng)驗做法分析
（一）精準定位目標客戶，滿足多元業(yè)務需求
天津市小蜜蜂公司在冷鏈倉儲管理集成中，成功應用RFID技術的主要經(jīng)驗之一是準確定位了應用測試目標，滿足客戶I務需求，從而提供先進技術與商品服務。在選擇供應商方面，小蜜蜂公司優(yōu)先定位了專業(yè)型提供冷鏈倉儲物流服務的供應商。例如，供應商具有提供總體供應鏈服務，第三方跨境電商、海關查驗服務、商檢、高質(zhì)量冷鏈倉儲物流、進口食品國際交易服務等能力。在定位客戶方面，深入了解與掌握客戶倉儲現(xiàn)場工況環(huán)境，客戶期望等。包括，RFID系統(tǒng)的規(guī)劃到設計、評估到實施，不斷運營與后續(xù)支持，為客戶提供一種立體化、全方位與靈活處理方案，助力客戶構(gòu)建新時代智慧的倉儲物流管理。例如，個性化定制開發(fā)、軟硬件一體化商品、生命周期管理與咨詢等服務。通過應用RFID技術，充分滿足倉了儲物流領域的客戶實際業(yè)務需求，由此提供優(yōu)質(zhì)商品與服務。
（二）測試計劃周密、準備充分，提高了RFID應用的成功率
為了實現(xiàn)將RFID技術成功應用于冷鏈倉儲管理，在測試實施前，小蜜蜂公司Smart WMS團隊為此次測試項目設立了包括項目經(jīng)理、軟硬件支持人員的專門項目小組，并由其制定測試計劃表。項目小組依據(jù)客戶的冷鏈倉儲管理需求、業(yè)務流程以及預計效益，制定了測試目標，以及涵蓋約200個測試事項的計劃表，為具體測試提供了參照依據(jù)，從而提高測試成功率。同時，在測試前，Smart WMS團隊多次到項目現(xiàn)場進行考察和調(diào)研，并與客戶積極溝通與交流，充分了解客戶倉儲現(xiàn)場的工況環(huán)境和倉儲管理業(yè)務操作流程，并進一步結(jié)合關于RFID應用的智能算法、過濾機制等，開發(fā)與倉儲現(xiàn)場相適應的手持、車載、固定式RFID中間件以及測試Demo應用軟件，提升RFID與客戶冷鏈倉儲管理系統(tǒng)的匹配度。此外，在測試準備過程中，小蜜蜂公司與多家讀寫設備、各類標簽等硬件的供應商合作，選用高性能RFID設備，并為叉車、托盤與自動化倉庫中準備了相應的先進配件，以此推進RFID在冷鏈倉儲管理體系中的運用，提高客戶倉儲業(yè)務的效率。
（三）測試環(huán)節(jié)覆蓋較廣，有效規(guī)避了應用的不確定性
此次測試項目中，小蜜蜂公司將RFID全面融入到客戶冷鏈倉儲管理系統(tǒng)中，測試環(huán)節(jié)包括叉托盤測試、上架和下架測試、平面?zhèn)}庫測試、高位叉車測試以及固定式讀寫器測試。并且，項目小組在每個環(huán)節(jié)中均開展了全方位的測試內(nèi)容，例如，在上架與下架測試中，工作人員在叉車上安裝了貨物讀取標簽，以獲取貨物位置信息，規(guī)避RFID在冷鏈倉儲管理中應用的不確定性；針對貨物上架的具體測試操作，相關工作人員先后對貨物標簽、貨位標簽分別進行掃描，掃描數(shù)據(jù)通過無線網(wǎng)路與數(shù)據(jù)庫通訊進行比對，確認數(shù)據(jù)無誤后，完成上架；針對貨物下架的具體測試操作，工作人員依據(jù)下架任務找到貨物后進行掃描，進而完成下架操作。再如，對平面?zhèn)}庫進行測試時，根據(jù)此倉庫貨物需要用鐵框托盤進行堆疊碼放的特征，測試小組在鐵框托盤上安裝了抗金屬標簽，并進行高層和底層的托盤讀取測試，同時，將貨位標簽作為地標安放在貨物前面的地上，開展地面RFID標簽測試。總體來看，小蜜蜂公司對冷鏈倉儲管理不同環(huán)節(jié)進行了RFID應用測試，有效規(guī)避了不同情況下RFID應用的不確定性，從而實現(xiàn)倉儲管理可視化、全局化和協(xié)同化。
（四）有效運用多方協(xié)作模式，場景選擇接近實際應用環(huán)境，提高測試結(jié)果的可靠性
在此次項目測試中，小蜜蜂公司充分運用多方協(xié)作模式，場景選擇接近實際應用環(huán)境，提高測試結(jié)果的可靠性是成功將RFID技術應用于冷鏈倉儲管理集成的主要經(jīng)驗之一。例如，在Smart WMS業(yè)務發(fā)展中，采用“聯(lián)系+發(fā)展”的協(xié)作模式，創(chuàng)建各行業(yè)倉庫管理過程中入庫、退庫、調(diào)撥等核心業(yè)務環(huán)節(jié)，以及各方面專業(yè)人才的協(xié)同配合，形成了企業(yè)倉庫管理完整體系。此外，整個方案過程和結(jié)果的測試場景選擇與部署，接近實際應用環(huán)境，有效保證了測試結(jié)果的可靠性。具體而言，在現(xiàn)場測試環(huán)節(jié)中，倉庫穿廊的地方溫度為-4℃至-5℃，庫房內(nèi)部恒溫在-20℃以下，持續(xù)性測試了4-5天。并且，在實際現(xiàn)場測試過程中，安裝了相應測試設備，對不同場景與倉庫進行全方位測試，由此為測試的成功提供了進一步保障。
三、幾點啟示
（一）加大RFID技術的科研投入，提升物流倉儲管理水平
RFID企業(yè)應加大RFID的科研力度，加速RFID創(chuàng)新，尤其是技術創(chuàng)新、生產(chǎn)創(chuàng)新、應用創(chuàng)新，以及中間件的發(fā)展創(chuàng)新，提升物流倉儲管理水平。一方面，企業(yè)應加大RFID傳感器網(wǎng)絡與通信網(wǎng)絡技術的研發(fā)投入，增加擁有自主知識產(chǎn)權的技術和產(chǎn)品數(shù)量。并且，應針對物流倉儲管理產(chǎn)品，研發(fā)新一代RFID標簽檢測儀，運用物流識別檢測技術，進行完整準確的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、物流倉儲分類細化與環(huán)境識別，從而減少物流倉儲損失。另一方面，研發(fā)企業(yè)要加大RFID遠距離快速讀取技術的創(chuàng)新力度，建立RFID的貨物管理平臺，通過對貨物入庫、出庫、盤點等核心業(yè)務優(yōu)化升級，提升物流倉庫管理業(yè)務水平。同時，企業(yè)應加大RFID的自動識別功能技術的研發(fā)力度，提供貨物實時動態(tài)消息，實現(xiàn)信息及時共享；創(chuàng)建準確性、盈利性和客戶滿意的物流倉儲管理，實現(xiàn)物流倉儲管理水平的提升。
（二）優(yōu)化基于RFID的物流管理信息系統(tǒng)，實時監(jiān)控貨物冷鏈倉儲信息
將RFID應用于物流信息系統(tǒng)中，可以發(fā)揮其自動識別與精準定位等功能，實時監(jiān)控貨物在物流全過程的相關信息。由此，企業(yè)應不斷優(yōu)化基于RFID的物流管理信息系統(tǒng)的硬件構(gòu)成，包括電子標簽、讀寫器、中間件與服務器等，大幅提高冷鏈倉儲環(huán)節(jié)貨物信息采集的及時性與準確性。具體而言，可通過優(yōu)化電子標簽方式，擴大讀寫器作業(yè)范圍，精確過濾和整理倉儲入庫貨物數(shù)據(jù)，并對各個車間的倉儲信息進行實時監(jiān)控、定位和追蹤。同時，在物流管理信息系統(tǒng)中，應將RFID技術與MES相結(jié)合，實時控制冷鏈倉儲的各個環(huán)節(jié)，保證物流順利開展。例如，應借助安裝于各個車間的讀寫器，實時讀取與傳輸各類倉儲信息與數(shù)據(jù)；借助MES的實時監(jiān)控功能，進行貨物冷鏈倉儲工作的指令下達與調(diào)度，提高物流管理信息系統(tǒng)的自踴與信息化程度。通過優(yōu)化此系統(tǒng)方式，可以實時監(jiān)督與調(diào)控貨物的冷鏈倉儲信息，提高整體物流效率。
（三）加強RFID安全系統(tǒng)建設，保護客戶隱私數(shù)據(jù)與信息
