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Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena是物理與天體物理領域的一本優秀期刊。由Elsevier出版社出版。該期刊主要發表物理與天體物理領域的原創性研究成果。創刊于1972年，該期刊主要刊載物理-光譜學及其基礎研究的前瞻性、原始性、首創性研究成果、科技成就和進展。該期刊不僅收錄了該領域的科技成就和進展，更以其深厚的學術積淀和卓越的審稿標準，確保每篇文章都具備高度的學術價值。此外，該刊同時被SCIE數據庫收錄，并被劃分為中科院SCI4區期刊，它始終堅持創新，不斷專注于發布高度有價值的研究成果，不斷推動物理與天體物理領域的進步。
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| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 4區 | SPECTROSCOPY 光譜學 | 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 3區 | SPECTROSCOPY 光譜學 | 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 4區 | SPECTROSCOPY 光譜學 | 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理 | 4區 | SPECTROSCOPY 光譜學 | 4區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 4區 | SPECTROSCOPY 光譜學 | 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 4區 | SPECTROSCOPY 光譜學 | 4區 | 否 | 否 |
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：SPECTROSCOPY | SCIE | Q2 | 22 / 44 |
51.1% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：SPECTROSCOPY | SCIE | Q2 | 16 / 44 |
64.77% |
| 學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Radiation | Q2 | 26 / 58 |
56% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q3 | 116 / 224 |
48% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Condensed Matter Physics | Q3 | 227 / 434 |
47% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q3 | 158 / 284 |
44% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Physical and Theoretical Chemistry | Q3 | 115 / 189 |
39% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Spectroscopy | Q3 | 49 / 76 |
36% |
| 年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
| 年發文量 | 151 | 150 | 88 | 84 | 102 | 84 | 68 | 58 | 61 | 74 |
| 國家/地區 | 數量 |
| USA | 39 |
| CHINA MAINLAND | 31 |
| GERMANY (FED REP GER) | 30 |
| India | 28 |
| Japan | 26 |
| Italy | 19 |
| Russia | 15 |
| Sweden | 15 |
| France | 13 |
| Poland | 12 |
| 機構 | 數量 |
| UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE) | 12 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 11 |
| CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE (CNR) | 9 |
| TECHNISCHE UNIVERSITAT WIEN | 9 |
| CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) | 8 |
| HELMHOLTZ ASSOCIATION | 8 |
| UPPSALA UNIVERSITY | 8 |
| CZECH ACADEMY OF SCIENCES | 7 |
| HUNAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY | 7 |
| UNIVERSITY OF DELHI | 7 |
| 文章名稱 | 引用次數 |
| XPS in industry-Problems with binding energies in journals and binding energy databases | 15 |
| Chemical bonding in carbide MXene nanosheets | 14 |
| Chemical surface analysis on materials and devices under functional conditions - Environmental photoelectron spectroscopy as non-destructive tool for routine characterization | 11 |
| Imaging XPS for industrial applications | 10 |
| Automated electron-optical system optimization through switching Levenberg-Marquardt algorithms | 10 |
| Electronic and magnetic properties of the (001) surface of the CoNbMnSi Heusler alloy: First-principles calculations | 9 |
| Reliable absorbance measurement of liquid samples in soft X-ray absorption spectroscopy in transmission mode | 9 |
| Electronic properties of composite iron (II, III) oxide (Fe3O4) carbonaceous absorber materials by electron spectroscopy | 8 |
| Investigation of local geometrical structure, electronic state and magnetic properties of PLD grown Ni doped SnO2 thin films | 6 |
| Effect of argon sputtering on XPS depth-profiling results of Si/Nb/Si | 6 |
SCIE
影響因子 4.2
CiteScore 1.5
SCIE
影響因子 0.9
CiteScore 1.6
SCIE
影響因子 1.8
CiteScore 3.1
SCIE
影響因子 2.7
CiteScore 6.9
SCIE
影響因子 0.5
CiteScore 1.4
SCIE
CiteScore 4
SCIE
影響因子 4.8
CiteScore 6.7
SCIE
CiteScore 2.8
SCIE
影響因子 0.7
CiteScore 1.4
SCIE
影響因子 1.3
CiteScore 2.7
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