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Ieee Transactions On Information Forensics And Security是計算機科學領域的一本權威期刊。由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版。該期刊主要發(fā)表計算機科學領域的原創(chuàng)性研究成果。創(chuàng)刊于2006年,是計算機科學領域中具有代表性的學術刊物。該期刊主要刊載工程技術-工程:電子與電氣及其基礎研究的前瞻性、原始性、首創(chuàng)性研究成果、科技成就和進展。該期刊不僅收錄了該領域的科技成就和進展,更以其深厚的學術積淀和卓越的審稿標準,確保每篇文章都具備高度的學術價值。此外,該刊同時被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄,并被劃分為中科院SCI1區(qū)期刊,相當于A級期刊(最高刊物級別),它始終堅持創(chuàng)新,不斷專注于發(fā)布高度有價值的研究成果,不斷推動計算機科學領域的進步。
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大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 1區(qū) 2區(qū) | 是 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 1區(qū) 1區(qū) | 是 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 1區(qū) 1區(qū) | 是 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 1區(qū) 2區(qū) | 是 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 1區(qū) 1區(qū) | 是 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 1區(qū) | COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 1區(qū) 1區(qū) | 是 | 否 |
按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS | SCIE | Q1 | 13 / 143 |
91.3% |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 42 / 352 |
88.2% |
按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS | SCIE | Q1 | 12 / 143 |
91.96% |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 28 / 354 |
92.23% |
學科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality | Q1 | 4 / 207 |
98% |
大類:Engineering 小類:Computer Networks and Communications | Q1 | 16 / 395 |
96% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年發(fā)文量 | 144 | 202 | 198 | 223 | 224 | 242 | 287 | 387 | 281 | 420 |
國家/地區(qū) | 數(shù)量 |
CHINA MAINLAND | 321 |
USA | 259 |
England | 56 |
Singapore | 56 |
Australia | 49 |
South Korea | 46 |
Italy | 42 |
GERMANY (FED REP GER) | 34 |
Canada | 32 |
India | 28 |
機構 | 數(shù)量 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 55 |
NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY & NATIONAL INSTITUTE OF EDUCATION (NIE) SINGAPORE | 24 |
WUHAN UNIVERSITY | 24 |
XIDIAN UNIVERSITY | 23 |
UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM | 21 |
SHENZHEN UNIVERSITY | 20 |
NEW YORK UNIVERSITY | 17 |
XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY | 17 |
ZHEJIANG UNIVERSITY | 17 |
BEIJING UNIVERSITY OF POSTS & TELECOMMUNICATIONS | 16 |
文章名稱 | 引用次數(shù) |
A Light CNN for Deep Face Representation With Noisy Labels | 91 |
Leveraging Content Sensitiveness and User Trustworthiness to Recommend Fine-Grained Privacy Settings for Social Image Sharing | 68 |
Privacy-Preserving Deep Learning via Additively Homomorphic Encryption | 55 |
Deep Residual Network for Steganalysis of Digital Images | 41 |
An Efficient MSB Prediction-Based Method for High-Capacity Reversible Data Hiding in Encrypted Images | 38 |
Depreciating Motivation and Empirical Security Analysis of Chaos-Based Image and Video Encryption | 38 |
Enabling Efficient and Geometric Range Query With Access Control Over Encrypted Spatial Data | 37 |
Cloud-Based Approximate Constrained Shortest Distance Queries Over Encrypted Graphs With Privacy Protection | 37 |
Using Deep Convolutional Neural Network Architectures for Object Classification and Detection Within X-Ray Baggage Security Imagery | 36 |
Enabling Identity-Based Integrity Auditing and Data Sharing With Sensitive Information Hiding for Secure Cloud Storage | 32 |
SCIE
影響因子 3.7
CiteScore 6.4
SCIE
影響因子 4.5
CiteScore 10
SCIE
影響因子 3.8
CiteScore 6.7
SCIE
影響因子 5.3
CiteScore 9.3
SCIE
影響因子 1.7
CiteScore 3.4
SCIE
CiteScore 5.6
SCIE
影響因子 7.7
CiteScore 20.9
SCIE
影響因子 3.9
CiteScore 7.3
SCIE
影響因子 5.3
CiteScore 10.3
SCIE
影響因子 3
CiteScore 7.7
若用戶需要出版服務,請聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。