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X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門圖書
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X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門

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內容簡介

Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章,側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射數據的實驗測試,并以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三個提高練習示例,包括創建儀器參數文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

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《X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書具有很強的實用性,可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射線多晶衍射Rietveld法結構精修和GSAS軟件的研究人員的入門參考書,也可以作為本科生、研究生教學的實驗教材

目錄

第1章Rietveld法結構精修

1.1Rietveld法結構精修發展概況

1.2Rietveld法基本原理

1.3參數修正順序與結果判據

1.3.1參數修正的順序

1.3.2精修的數值判據

1.3.3精修的圖示判斷

1.4精修過程出現的問題和對策

1.5Rietveld法結構精修的應用

1.5.1修正晶體結構

1.5.2相變研究和點陣常數測定

1.5.3物相定量分析

1.5.4晶粒尺寸和微應變測定

第2章EXPGUI-GSAS軟件安裝與界面介紹

2.1GSAS軟件簡介

2.2EXPGUI-GSAS軟件的安裝

2.3EXPGUI-GSAS軟件界面介紹

2.3.1菜單欄

2.3.2選項卡界面

2.3.3EXPGUI幫助內容

第3章EXPGUI-GSAS結構精修起步

3.1精修前的準備工作

3.1.1衍射數據的測定

3.1.2衍射數據的轉換

3.1.3初始結構的獲取

3.2EXPGUI精修簡單示例

3.2.1生成EXP文件

3.2.2精修過程

3.2.3常見問題

3.3精修結果提取與繪圖

3.3.1精修結果提取

3.3.2精修圖譜繪圖

第4章EXPGUI-GSAS提高練習

4.1儀器參數文件的建立

4.1.1基本知識

4.1.2操作過程

4.2物相(含非晶)定量分析

4.2.1基本原理

4.2.2衍射數據測試

4.2.3精修過程

4.3Le Bail法擬合以及約束的使用

4.3.1問題描述

4.3.2精修過程

參考文獻

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2017-07-07 15:03:33

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