叢書內(nèi)容分為三大部分：
單元檢測(cè)卷
單元檢測(cè)卷是叢書的核心內(nèi)容，分AB卷；
A卷為“高中名校好題基礎(chǔ)達(dá)標(biāo)卷”：圍繞單元知識(shí)點(diǎn)，廣泛粹選各地名校周練月考題、期中期末題、名校聯(lián)考題及區(qū)域性大型聯(lián)考題，精選好題、優(yōu)化整合而成的單元測(cè)試卷。其基本特點(diǎn)是題目科學(xué)、新穎、訓(xùn)練價(jià)值高。難度兼顧基礎(chǔ)和中等。
B卷為“高中名師原創(chuàng)能力提升卷”：圍繞單元知識(shí)點(diǎn)，約請(qǐng)名校名師原創(chuàng)而成的高質(zhì)量單元測(cè)試卷。以完整的試卷形式對(duì)單元知識(shí)進(jìn)行檢測(cè)，重在測(cè)試學(xué)生的綜合、拓展和應(yīng)用創(chuàng)新能力。其基本特點(diǎn)是題目原創(chuàng)、源于名校、創(chuàng)新度高。難度中等。
專題檢測(cè)卷
專題檢測(cè)卷針對(duì)課本中的重點(diǎn)、難點(diǎn)知識(shí)組織試卷。與單元檢測(cè)卷有兩點(diǎn)不同：其一、更注重知識(shí)應(yīng)用、能力整合，其二、知識(shí)跨度大，跨單元整合為主。重點(diǎn)專題設(shè)“雙測(cè)卷”。
模塊檢測(cè)卷
模塊檢測(cè)卷是對(duì)整個(gè)模塊內(nèi)容的綜合檢測(cè)，每個(gè)模塊設(shè)置兩套，分“學(xué)業(yè)水平測(cè)試卷”和“高考水平測(cè)試卷”。從命題模式、重點(diǎn)、難點(diǎn)和熱點(diǎn)到題型分布等仿真考試卷，使學(xué)生進(jìn)入真實(shí)的學(xué)業(yè)檢測(cè)模式，引領(lǐng)學(xué)生實(shí)現(xiàn)能力提升和跨越。
金考卷?活頁(yè)題選》名師名題單元雙測(cè)卷，試題豐富、新穎，其中A卷精選名校更新月考、期中、期末等考試題目，同時(shí)挑選近兩年高考真題，注重對(duì)基礎(chǔ)知識(shí)的考查；B卷力邀全國(guó)百所名校特高級(jí)教師精心命制，試題精，考點(diǎn)全，注重對(duì)能力的提升。全書答案詳盡，更有單元重點(diǎn)速查、技巧點(diǎn)撥、規(guī)律總結(jié)、名師點(diǎn)津等欄目助您學(xué)習(xí)無(wú)憂。
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